[发明专利]一种顾及“二差”改正的地基SAR距离变化检测方法在审

专利信息
申请号: 201811179713.3 申请日: 2018-10-10
公开(公告)号: CN109343055A 公开(公告)日: 2019-02-15
发明(设计)人: 龙四春;马金玉 申请(专利权)人: 湖南科技大学
主分类号: G01S13/90 分类号: G01S13/90
代理公司: 张家界市慧诚商标专利事务所 43209 代理人: 高红旺
地址: 411201*** 国省代码: 湖南;43
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明提供了一种顾及“二差”改正的地基SAR距离变化检测方法。包括以下步骤:首先建立以雷达成像中心为原点的折光直角坐标系,将光径分别投影至XOZ平面和XOY平面内。由于折射率梯度垂直和水平分量使得光径在两个坐标系内偏离直线,存在一定曲率,需要利用光径上的气象元素与梯度、以及测线下地形与地貌参数,求出光径上各点的垂直折射率梯度分量dn/dz和水平折射率梯度分量dn/dy,与光径曲率KZ和KY建立光径方程,得到测量值与实际光径长度的差值,从而对大气折光进行改正。并对地球曲率误差值进行推导与改正,以克服雷达视线向“二差”(大气折光与地球曲率)对测距的影响,从而提高地基雷达的位移测量精度。
搜索关键词: 光径 折光 折射率梯度 改正 地基 距离变化检测 曲率 地球曲率 垂直 雷达 测距 直角坐标系 原点 光径长度 雷达成像 水平分量 位移测量 测线 推导 投影 地貌 测量 地形 偏离 视线 气象
【主权项】:
1.一种顾及“二差”改正的地基SAR距离变化检测方法,其特征是包括以下步骤: (1)大气折光校正1)建立直角坐标系,坐标系以雷达成像中心为原点,过成像中心的铅垂线为 Z 轴,X 轴为一水平轴,与目标点处于同一竖直面内,另一轴为 Y 轴;将曲线光径分别投影至 XOZ 平面和XOY 平面内;2)光径曲率KZ和KY的计算,由于折射率梯度的垂直分量dn/dz和水平分量 dn/dy 的存在, 光径在 XOZ 平面和XOY 平面内投影的曲率表达式分别为:                                     (1)                                     (2)3)折射梯度dn/dz 、dn/dy的计算,射率梯度分量 dn/dz 和dn/dy 分别决定了光径在XOZ 平面和XOY 平面内投影的形状:上述所有梯度的垂直和水平分量可通过推导得出:①温度梯度分量dT/dz和dT/dy由大气热力学可知,温度 T与高度 H的关系为:T =k*lnH +C   (3)对某时刻及特定地表而言,K、 C为随时间和地表情况发生变化的常数;设某时刻在测线下两不同高度H1和H2处分别测得其温度为T1和T2则由式(3)有:k =(T2 ‑T1)/ln(H2 / H1)由(3)式T求导可得温度垂直梯度:dT/dz =dT/dH =k/ H    (4)由于测区沿测线方向存在大气温度无法测量或工作量太大不能实现,可以分别在测站雷达A处和目标点B处的不同高度观测温度,求出ka和k b,而认为A、B间的k值按线性规律变化,即k =ka +(kb ‑ka )X/ D式中, D为A、B间的水平距离;X为光径上某点的横坐标;将上式代入式(4)中得:dT/dz =[ ka +(kb ‑ka )X/ D]/ H (5)上式中 H 为测线某点至地面的距离, 它的值与光径下的地形直接相关, 设光径下地面的纵断面线由折线构成,方程为:Z = f(x)=aiX +bi对折线中的不同直线段,ai、bi各不相同;H的表达式为:H=hab *X/D ‑f (x)将H的表达式代入(5)中得:式中,ka、kb、hab、△Ti、△Yi分别为地基雷达成像中心温度、目标点的温度以及雷达成像中心与目标点的高差;如果光径远离建筑物或山坡且悬空高度较大,则可以认为光径上的 dT/dy =0,否则应根据实际情况将测线分段,在分段点处布设温度断面,测定温度差从而间接求得分段点的温度梯度;如设第i分段点两侧的温度差为ΔTi,两侧温度观测点的间距为ΔYi,则第i点处的水平温度梯度为:②气压梯度分量 dP/dz 和 dP/dy一般情况下可以认为气压的水平梯度分量dP/dy=0;而当地面附近的湍流不剧烈时,可认为大气近似满足静力学方程:dP/dz =dP/dh =‑ρg     (6)式中 , g 为重力加速度,取 g =9.806 65 m/s 2,不会影响计算精度;ρ为空气密度,对湿空气而言,有:ρ=P/[ 133.322Rd T(1 +0.378e/ P)]上式中 R d =2.87 ×10 ‑6 , 为干燥空气的气体常数;将上式代入式(6)得:式中,e为水蒸气分压力;通常,同一时刻小范围内P、T、e的变化不大,故可将光径上各点某时刻的dP/dz视为常数;湿度梯度分量 de/dz 和 de/dy4)光径方程利用光径上的气象元素及其梯度 ,以及测线下地形、地表的具体情况,可以求出光径上各点的垂直折射率梯度分量 dn/dz 和水平折射率梯度分量 dn/dy , 这就使我们有可能建立光径的方程,从而对折光影响进行定量分析;光径方程与曲率有如下关系:          (7)对上式积分后得:其中,C2为常数,考虑到起始条件,曲线过(0 ,0)和 (D,h)两点,则可求解 C 1、C 2 两个积分常数:C2 =‑Q1(0),Q1(D)‑Q1(0)=h常数 C 1 由第二个等式确定,即;同样地,Y = Q2 (x)+d2 ,式中,,d1、d2均为积分常数;5)折光改正数为求得光径的实际长度s,需要进行如下曲线积分:最后化简并整理得:其中,              (8)上式中△St即为距离观测值的折光改正数; (2)地球曲率改正1)建立地球曲率改正原理示意图;图中弧MN、AB分别为大地水准面和仪器视线水准面,R为地球平均曲率半径,R`为测站仪器视线法截弧曲率半径,H为雷达天线高程,D为雷达所测视线向目标点的斜距,在视线水准面上对应于弧长AB;对视线向距离的地球曲率改正就是为了减小所测得距离D与实际距离AB误差;2)建立曲率改正方程:令S为AF的实际距离,则由几何关系易知:                     (9)将(9)式用级数展开得:  (10)令V1=D3/(3R`2) V2= D5/(5R`4) V3=D7/(7R`6)则(10)可化简为:         (11)又由于V2、V3都很微小,故上式可进一步化简为:                       (12)所以可得地球曲率改正数∆SD=                                  (13)由此便得到了地基雷达视线向的距离“二差”改正值:∆S=∆St+∆SD                              (14)。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于湖南科技大学,未经湖南科技大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201811179713.3/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top