[发明专利]太赫兹频谱校准系统及方法有效
申请号: | 201811187004.X | 申请日: | 2018-10-12 |
公开(公告)号: | CN109030406B | 公开(公告)日: | 2023-06-09 |
发明(设计)人: | 张景;蔡禾;李粮生;孙金海;殷红成;肖志河 | 申请(专利权)人: | 北京环境特性研究所 |
主分类号: | G01N21/3586 | 分类号: | G01N21/3586 |
代理公司: | 北京格允知识产权代理有限公司 11609 | 代理人: | 周娇娇 |
地址: | 100854*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明涉及一种太赫兹频谱校准系统,包括激光光源、太赫兹波产生单元、探测单元、太赫兹光路、准直光路、透射反射片、分光元件和标准量具,该系统利用太赫兹波在标准量具内多次反射形成的周期性的标准量具振荡,对太赫兹时域光谱进行频率校准,并且,该系统通过引入准直光路,利用同源的准直光实现太赫兹波光路间接校准,使得太赫兹波与标准量具垂直,减小由非垂直入射引起的频谱误差,有效提高系统的准确性和可靠性。本发明还提供了一种太赫兹频谱校准方法,通过太赫兹频谱校准系统进行频谱校准,利用反向输入太赫兹光路的准直光调整太赫兹光路,使标准量具与太赫兹波垂直,减小标准量具对太赫兹倾斜角引起的频谱误差。 | ||
搜索关键词: | 赫兹 频谱 校准 系统 方法 | ||
【主权项】:
1.一种太赫兹频谱校准系统,其特征在于,包括:激光光源、太赫兹波产生单元、探测单元、太赫兹光路、准直光路、透射反射片、分光元件和标准量具;所述激光光源用于产生同源的泵浦光束和探测光束;所述太赫兹波产生单元用于接收泵浦光束以产生同源太赫兹波;所述太赫兹光路用于传输太赫兹波,使太赫兹波以45°角入射所述透射反射片并反射后,在所述探测单元聚焦;所述标准量具为固体平板;所述分光元件用于将探测光束分为两路,使一路作为探测光以45°角入射所述透射反射片并透射后,在所述探测单元聚焦;另一路则作为准直光通过所述准直光路,在所述透射反射片处透射后,反向输入所述太赫兹光路。
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