[发明专利]一种评价三维不规则颗粒表面整体粗糙度的方法有效
| 申请号： | 201811187304.8 | 申请日： | 2018-10-12 |
| 公开（公告）号： | CN109389596B | 公开（公告）日： | 2022-04-12 |
| 发明（设计）人： | 苏栋;江月琴 | 申请（专利权）人： | 深圳大学 |
| 主分类号： | G06T7/00 | 分类号： | G06T7/00;G06T17/00 |
| 代理公司： | 深圳市添源知识产权代理事务所(普通合伙) 44451 | 代理人： | 罗志伟 |
| 地址： | 518000 广东*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种评价三维不规则颗粒表面整体粗糙度的方法，包括以下步骤：S1、利用三维扫描仪对三维不规则颗粒进行扫描，获取颗粒表面的点云数据；S2、利用扫描得到的颗粒表面点的坐标，以最高度数n=25的球谐函数对颗粒表面进行三维几何重构，以重构后的虚拟颗粒作为基准光滑颗粒，基于真实颗粒和基准颗粒的差异评价颗粒的整体粗糙度；S3、以重构后的虚拟颗粒作为基准光滑颗粒，基于实际颗粒表面与基准颗粒表面之间所围成的体积和基准颗粒表面积评价真实颗粒的粗糙度。本发明的有益效果是：可以评价整个颗粒的整体粗糙度；能考虑三维不规则颗粒整体几何形态的影响。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 评价 三维 不规则 颗粒 表面 整体 粗糙 方法 | ||
【主权项】：
1.一种评价三维不规则颗粒表面整体粗糙度的方法，其特征在于，包括以下步骤：S1、利用三维扫描仪对三维不规则颗粒进行扫描，获取颗粒表面的点云数据；S2、利用扫描得到的颗粒表面点的坐标，以最高度数n＝25的球谐函数对颗粒表面进行三维几何重构，以重构后的虚拟颗粒作为基准光滑颗粒，基于真实颗粒和基准颗粒的差异评价颗粒的整体粗糙度；S3、以重构后的虚拟颗粒作为基准光滑颗粒，基于实际颗粒表面与基准颗粒表面之间所围成的体积和基准颗粒表面积评价真实颗粒的粗糙度。
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