[发明专利]一种基于阻抗分析仪测量磁芯损耗的方法有效
| 申请号： | 201811188203.2 | 申请日： | 2018-10-12 |
| 公开（公告）号： | CN109188103B | 公开（公告）日： | 2021-04-27 |
| 发明（设计）人： | 陈为;柳百毅;汪晶慧 | 申请（专利权）人： | 福州大学 |
| 主分类号： | G01R27/26 | 分类号： | G01R27/26 |
| 代理公司： | 福州元创专利商标代理有限公司 35100 | 代理人： | 蔡学俊 |
| 地址： | 350108 福建省福*** | 国省代码： | 福建;35 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种基于阻抗分析仪测量磁芯损耗的方法，基于阻抗分析仪自动平衡电桥的高精度阻抗测量原理，结合交流功率计法中双绕组测量磁芯损耗的概念，提出了一种利用磁芯频率阻抗特性来表征磁芯损耗，并能够在大信号励磁和宽频带范围内测量磁芯损耗的方法。该方法由阻抗分析仪、功率放大器，宽频带高精度的分压器和分流器，以及待测磁件构成，且待测磁件采用双绕组，依据阻抗分析仪高精度阻抗测量的特点，可直接测量高功率密度下的磁芯频率阻抗特性，并以此表征磁芯单位电流损耗，具有较高的精度。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 阻抗 分析 测量 损耗 方法 | ||
【主权项】：
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