[发明专利]幕墙形体翘曲分析方法、装置、计算机设备及存储介质有效
申请号: | 201811188872.X | 申请日: | 2018-10-12 |
公开(公告)号: | CN109165473B | 公开(公告)日: | 2023-03-24 |
发明(设计)人: | 王浩名;张海斌;程兴华;何敏 | 申请(专利权)人: | 深圳市三鑫科技发展有限公司 |
主分类号: | G06F30/13 | 分类号: | G06F30/13;G06T7/64 |
代理公司: | 深圳市精英专利事务所 44242 | 代理人: | 冯筠 |
地址: | 518000 广东省深圳市南山区滨海大道深*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本发明涉及幕墙形体翘曲分析方法、装置、计算机设备及存储介质,该方法包括获取项目实际情况;根据项目实际情况建立幕墙表皮模型;对幕墙表皮模型进行划分幕墙分格,以形成分格模型;设置分格模型的表皮方向;获取待分析曲面;设定待分析曲面的参数;根据待分析曲面的参数对待分析曲面进行翘曲信息分析,以形成分析结果。本发明通过根据项目实际情况建立幕墙表皮模型,并进行划分幕墙分格,细化至分格模型,统一设置分格模型的表皮方向,对待分析曲面进行参数设定,根据阐述进行面板分析、中心点切平面分析、面板着色、编号以及翘高分析的自动分析,以实现自动分析幕墙形体翘曲信息,且提高设计效率和准确性。 | ||
搜索关键词: | 幕墙 形体 分析 方法 装置 计算机 设备 存储 介质 | ||
【主权项】:
1.幕墙形体翘曲分析方法,其特征在于,包括:获取项目实际情况;根据项目实际情况建立幕墙表皮模型;对幕墙表皮模型进行划分幕墙分格,以形成分格模型;设置分格模型的表皮方向;获取待分析曲面;设定待分析曲面的参数;根据待分析曲面的参数对待分析曲面进行翘曲信息分析,以形成分析结果。
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