[发明专利]MEMS样品纵向截面的制备方法及形貌观察方法在审
申请号: | 201811196881.3 | 申请日: | 2018-10-15 |
公开(公告)号: | CN111039254A | 公开(公告)日: | 2020-04-21 |
发明(设计)人: | 张洵;吴锦波;张薇 | 申请(专利权)人: | 无锡华润上华科技有限公司 |
主分类号: | B81C1/00 | 分类号: | B81C1/00;G01N23/2251 |
代理公司: | 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 | 代理人: | 邓云鹏 |
地址: | 214028 江苏省无*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明公开了一种MEMS样品的制备方法及形貌观察方法,该制备方法包括:获取MEMS样品;冷却所述MEMS样品结构中的聚酰亚胺层;对所述MEMS样品进行裂片处理,形成所述MEMS样品的纵向截面,露出需观察的层次结构;上述MEMS样品纵向截面的制备方法,采用裂片的方式得到MEMS样品纵向截面的成功率高,效率也高。且因为常压下液氮温度一般可以低至‑196℃,因此,对于存在聚酰亚胺层的MEMS样品,经液氮的低温作用后,会使聚酰亚胺层变硬变脆,因此裂片处理MEMS样品,最终得到的纵向截面也不容易粘上聚酰亚胺,因此就可以较为清晰的观察到MEMS样品纵向截面的形貌。 | ||
搜索关键词: | mems 样品 纵向 截面 制备 方法 形貌 观察 | ||
【主权项】:
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