[发明专利]一种基于产液剖面测试技术计算单层地层水矿化度的方法在审
| 申请号： | 201811197775.7 | 申请日： | 2018-10-15 |
| 公开（公告）号： | CN109281665A | 公开（公告）日： | 2019-01-29 |
| 发明（设计）人： | 刘洪亮;王成荣;范生刚;张予生;夏元剑;刘春辉;叶志红;吴都 | 申请（专利权）人： | 中国石油天然气集团有限公司;中国石油集团测井有限公司 |
| 主分类号： | E21B49/00 | 分类号： | E21B49/00 |
| 代理公司： | 西安通大专利代理有限责任公司 61200 | 代理人： | 徐文权 |
| 地址： | 100007 北京市*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种基于产液剖面测试技术计算单层地层水矿化度的方法，包括：通过产液剖面测试资料直接计算单层地层水矿化度，具体包括：图版标定：在地面20℃的条件下利用不同矿化度的盐水进行双持水仪器标定，得到该条件下的矿化度和阻抗测量值之间的关系；阻抗全水温度校正：实验室标定数据温度为20℃，利用测井数据读取第1点的井下温度TDOW1，读取阻抗全水井下值ZYHDWnd，用温度关系校正到地面阻抗全水值ZYHDWn；查图版：根据仪器编号和测试档位号选定图版，依据阻抗全水值ZYHDWn得到：点N处的井筒矿化度QCWHn；利用井筒流量与矿化度的关系，逐点计算得到ZHDWn‑1、…、ZHDWn‑1、ZHDWn矿化度值。本发明能够在进行例行的产液剖面测试后得到各产水射孔层的矿化度。 | ||
| 搜索关键词： | 矿化度 产液剖面测试 阻抗 地层水矿化度 图版 单层 全水 读取 技术计算 井筒 标定数据 测井数据 温度关系 温度校正 仪器标定 直接计算 逐点计算 阻抗测量 射孔层 标定 产水 档位 井下 校正 盐水 水井 测试 | ||
【主权项】：
1.一种基于产液剖面测试技术计算单层地层水矿化度的方法，其特征在于，该方法通过产液剖面测试资料直接计算单层地层水矿化度，包括以下步骤：S101，图版标定：在地面20℃的条件下利用不同矿化度的盐水进行双持水仪器标定，得到该条件下的矿化度和阻抗测量值之间的关系；S102，阻抗全水温度校正：实验室标定数据温度为20℃，利用测井数据读取第1点的井下温度TDOW1，读取阻抗全水井下值ZYHDWnd，用温度关系校正到地面阻抗全水值ZYHDWn；S103，查图版：根据仪器编号和测试档位号选定图版，依据阻抗全水值ZYHDWn得到：点N处的井筒矿化度QCWHn；S104，利用井筒流量与矿化度的关系，逐点计算得到ZHDWn‑1、…、ZHDWn‑1、ZHDWn矿化度值。
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