[发明专利]晶圆摆放方式的派工选择系统及晶圆的摆放方法有效
申请号: | 201811197872.6 | 申请日: | 2018-10-15 |
公开(公告)号: | CN109207967B | 公开(公告)日: | 2020-11-20 |
发明(设计)人: | 林敏伟;张凌越;姜波 | 申请(专利权)人: | 上海华虹宏力半导体制造有限公司 |
主分类号: | C23C16/52 | 分类号: | C23C16/52 |
代理公司: | 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 | 代理人: | 屈蘅 |
地址: | 201203 上海市浦东*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明公开了一种晶圆在晶舟上摆放方式的派工选择系统及摆放方法,在化学气相沉积工艺的其它条件一定的情况下,晶圆表面沉积薄膜的厚度与其对应的光罩透光率呈线性负相关,并结合反应炉的通气情况,先统计分析同一批次晶圆对应的光罩透光率范围,再针对每个晶圆,根据晶圆对应的光罩透光率在光罩透光率范围中的位置确定晶圆在晶舟上的摆放位置:对于光罩透光率高的晶圆,选择晶圆从晶舟下端开始摆放的子方式;对于光罩透光率低的晶圆,选择晶圆从晶舟上端开始摆放的子方式。如此,能最大限度度地对化学气相沉积工艺中同一批次晶圆的表面沉积薄膜的厚度进行补偿调节,使得化学气相沉积工艺中同一批次的多个晶圆的表面沉积薄膜的厚度一致。 | ||
搜索关键词: | 摆放 方式 选择 系统 方法 | ||
【主权项】:
1.一种晶圆摆放方式的派工选择系统,用于化学气相沉积工艺中晶圆在晶舟上的摆放方式的派工选择,其特征在于,包括:采集模块,从数据库中采集所述晶圆对应光罩的透光率信息;处理模块,根据所述光罩的透光率信息,并结合所述晶舟的结构,分析判断所述晶圆的摆放方式;输出模块,对外输出所述晶圆的摆放方式。
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C23 对金属材料的镀覆;用金属材料对材料的镀覆;表面化学处理;金属材料的扩散处理;真空蒸发法、溅射法、离子注入法或化学气相沉积法的一般镀覆;金属材料腐蚀或积垢的一般抑制
C23C 对金属材料的镀覆;用金属材料对材料的镀覆;表面扩散法,化学转化或置换法的金属材料表面处理;真空蒸发法、溅射法、离子注入法或化学气相沉积法的一般镀覆
C23C16-00 通过气态化合物分解且表面材料的反应产物不留存于镀层中的化学镀覆,例如化学气相沉积
C23C16-01 .在临时基体上,例如在随后通过浸蚀除去的基体上
C23C16-02 .待镀材料的预处理
C23C16-04 .局部表面上的镀覆,例如使用掩蔽物的
C23C16-06 .以金属材料的沉积为特征的
C23C16-22 .以沉积金属材料以外之无机材料为特征的
C23C 对金属材料的镀覆;用金属材料对材料的镀覆;表面扩散法,化学转化或置换法的金属材料表面处理;真空蒸发法、溅射法、离子注入法或化学气相沉积法的一般镀覆
C23C16-00 通过气态化合物分解且表面材料的反应产物不留存于镀层中的化学镀覆,例如化学气相沉积
C23C16-01 .在临时基体上,例如在随后通过浸蚀除去的基体上
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C23C16-06 .以金属材料的沉积为特征的
C23C16-22 .以沉积金属材料以外之无机材料为特征的