[发明专利]考虑滤膜形变的β射线衰减法颗粒物浓度监测方法及系统

摘要

本发明公开了一种考虑滤膜形变的β射线衰减法颗粒物浓度监测方法及系统，该系统包括β射线衰减法颗粒物浓度测试仪、处理器和摄像机，摄像机拍摄滤膜发生变形后的图像并传输给处理器，处理器对滤膜进行采样点划分并获取采样点处的厚度并计算采样后滤膜的质量，处理器依据本发明的方法计算得到颗粒物浓度。本发明的监测系统结构简单，消除了滤膜发生形变而造成的测量误差，提高了测量结果的准确性。

主权项

1.一种考虑滤膜形变的β射线衰减法颗粒物浓度监测方法，其特征在于，包括如下步骤：S1，采集β射线衰减法颗粒物浓度测试仪测试前的厚度，以及测试后不同位置的滤膜测试厚度与真实厚度的夹角，获得测试后滤膜发生变形后的采样厚度，其中，L1为测试前滤膜的厚度，L2i为测试后滤膜发生变形后的采样厚度，i为采样点，将测试后的滤膜分割为n个采样点，n为正整数，i为正整数且1≤i≤n，L1/L2i＝cosθi，θi为采样点i处测试厚度与真实厚度的夹角；S2，假设放射源初始射线强度I0保持不变，测量采样前后的β射线穿过滤膜后的强度I1、I2，利用L1、L2i得到：其中，I'2i为滤膜发生变形后β射线穿过介质后的采样点i处的射线强度，I1为测量采样前的β射线穿过滤膜后的强度，μm为被测物质的质量吸收系数，ρ为被测物质的密度；S3，计算测量采样后的β射线穿过滤膜后的强度I2，S4，根据获得的滤膜厚度或滤膜质量计算厚度影响因子ε，采样前后滤膜增量公式为：其中，m1为采样前滤膜的质量、m2为采样后滤膜与颗粒物质量之和，s为被测区域面积；S5，计算得到颗粒物浓度：所述V为采样流量。