[发明专利]一种差分式旋转全张量仪校正方法及装置有效

专利信息
申请号: 201811204456.4 申请日: 2018-10-16
公开(公告)号: CN109061770B 公开(公告)日: 2019-10-25
发明(设计)人: 随阳轶;贺玮;夏争辉;刘世斌;刘珂;毕忠华 申请(专利权)人: 吉林大学
主分类号: G01V13/00 分类号: G01V13/00
代理公司: 北京知呱呱知识产权代理有限公司 11577 代理人: 朱红涛;冯建基
地址: 130012 吉林*** 国省代码: 吉林;22
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摘要: 发明实施例公开了一种差分式旋转全张量仪校正方法及装置,属于张量仪校正技术领域,该方法根据传感器坐标系与仪器坐标系中的张量转换关系,创建误差模型,计算出误差模型中的系数矩阵,从而可通过该误差模型,计算出校正后的张量值,解决了现有技术中不存在差分式旋转全张量仪的误差分析与校正的方法的问题。
搜索关键词: 校正 误差模型 传感器坐标系 仪器坐标系 误差分析 系数矩阵 转换关系 差分式 创建
【主权项】:
1.一种差分式旋转全张量仪校正方法,其特征在于,所述方法包括:获取所述差分式旋转全张量仪上放置的两个磁通门,分别在第一传感器坐标系、第二传感器坐标系、第三传感器坐标系下的各张量分量与该坐标系下的电压二次谐波的第一关系,其中,所述两个磁通门放置在所述差分式旋转全张量仪上的圆盘上,均与所述圆盘相切,所述两个磁通门反向平行,所述第一传感器坐标系、第二传感器坐标系、第三传感器坐标系,分别是绕预设第一坐标系的Z轴旋转0°、120°、240°后的坐标系,所述预设第一坐标系的Z轴垂直向上、X轴水平向右,Y轴垂直纸面或屏幕向外;获取所述第一传感器坐标系、所述第二传感器坐标系、所述第三传感器坐标系下的张量,分别与仪器坐标系下的张量的转换关系;根据各第一关系以及各转换关系,创建误差模型,其中,所述误差模型为所述第一传感器坐标系、所述第二传感器坐标系、所述第三传感器坐标系下的张量分别对应的所述仪器坐标系下的张量,与该坐标系下的电压二次谐波的第二对应关系;获取两个磁梯度张量分量不变量;根据所述误差模型,以及所述两个磁梯度张量分量不变量,通过最小二乘法以及MATLAB数值计算方法,计算出所述误差模型的误差系数矩阵,其中,所述误差系数矩阵为各第二对应关系中的所述仪器传感器下的张量所对应的系数矩阵。
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