[发明专利]AMOLED补偿电路的电容结构及其容量的提升方法在审
申请号: | 201811212928.0 | 申请日: | 2018-10-18 |
公开(公告)号: | CN109346459A | 公开(公告)日: | 2019-02-15 |
发明(设计)人: | 不公告发明人 | 申请(专利权)人: | 福建华佳彩有限公司 |
主分类号: | H01L23/64 | 分类号: | H01L23/64 |
代理公司: | 福州市博深专利事务所(普通合伙) 35214 | 代理人: | 林志峥 |
地址: | 351100 福*** | 国省代码: | 福建;35 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明涉及AMOLED技术领域,特别涉及一种AMOLED补偿电路的电容结构及其容量的提升方法;所述电容结构包括从下往上依次设置的玻璃层、第一金属层、第一绝缘层、半导体层和第二金属层;所述电容结构的电容间距等于第一绝缘层的厚度。在不增加制程的前提下,利用氧化物半导体层(例如:IGZO)作为蚀刻阻挡层,去除现有补偿电路电容绝缘层中的第二绝缘层膜层,在电容区域形成半导体层与第二金属层直接搭接的图案作为上电极,减小电容的绝缘层厚度,进而实现单位面积电容量的提升,有利于实现更宽的制程条件和更高分辨率AMOLED显示技术。 | ||
搜索关键词: | 电容结构 绝缘层 补偿电路 第二金属层 半导体层 电容 单位面积电容量 氧化物半导体层 第一金属层 电容绝缘层 蚀刻阻挡层 电容区域 高分辨率 绝缘层膜 依次设置 制程条件 电极 玻璃层 搭接 减小 制程 去除 图案 | ||
【主权项】:
1.一种AMOLED补偿电路的电容结构,其特征在于,包括从下往上依次设置的玻璃层、第一金属层、第一绝缘层、半导体层、第二绝缘层和第二金属层;所述电容结构的电容间距等于第一绝缘层的厚度。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于福建华佳彩有限公司,未经福建华佳彩有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201811212928.0/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:高K介电层及其形成方法、应用其的电容器结构
- 下一篇:MiniLED制备方法