[发明专利]一种显微偏振光谱分析系统及方法在审
| 申请号： | 201811213379.9 | 申请日： | 2018-10-18 |
| 公开（公告）号： | CN109405971A | 公开（公告）日： | 2019-03-01 |
| 发明（设计）人： | 杜关祥;刘颖;胡振忠;董明明;杨博;陈国彬 | 申请（专利权）人： | 南京邮电大学 |
| 主分类号： | G01J3/447 | 分类号： | G01J3/447 |
| 代理公司： | 南京苏科专利代理有限责任公司 32102 | 代理人： | 姚姣阳;杜春秋 |
| 地址： | 210023 江苏*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明提出了一种显微偏振光谱分析系统，包括白光光源、起偏系统、偏振分析系统和显微成像系统，在所述起偏系统与偏振分析系统之间设置有样品；所述起偏系统包括一个可绕中心轴旋转的光学起偏器；所述偏振分析系统包括偏振分束器以及第一光谱仪和第二光谱仪，所述偏振分束器分别通过光纤与第一光谱仪和第二光谱仪连接；所述显微成像系统包括放置于样品前的物镜和放置于相机前的成像透镜。本发明的系统适用于从紫外到红外的整个光谱区域，构造简单，能够测量整个光谱的磁光特性。 | ||
| 搜索关键词： | 光谱仪 偏振分析 起偏系统 光谱分析系统 显微成像系统 偏振分束器 偏振 显微 光学起偏器 白光光源 成像透镜 磁光特性 光谱区域 中心轴 物镜 光谱 相机 测量 光纤 | ||
【主权项】：
1.一种显微偏振光谱分析系统，其特征在于：包括白光光源、起偏系统、偏振分析系统和显微成像系统，在所述起偏系统与偏振分析系统之间设置有样品；所述起偏系统包括一个可绕中心轴旋转的光学起偏器；所述偏振分析系统包括偏振分束器以及第一光谱仪和第二光谱仪，所述偏振分束器分别通过光纤与第一光谱仪和第二光谱仪连接；所述显微成像系统包括放置于样品前的物镜和放置于相机前的成像透镜。
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