[发明专利]一种半参考型超分辨率重构图像质量评价模型的建立方法有效

专利信息
申请号: 201811213803.X 申请日: 2018-10-17
公开(公告)号: CN109447903B 公开(公告)日: 2022-11-18
发明(设计)人: 汤丽娟;孙克争;王鑫;王光成 申请(专利权)人: 江苏商贸职业学院
主分类号: G06T3/40 分类号: G06T3/40;G06T5/00;G06T5/40;G06T7/00;G06T7/40
代理公司: 南京瑞弘专利商标事务所(普通合伙) 32249 代理人: 顾森燕
地址: 226000*** 国省代码: 江苏;32
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明提供了一种半参考型超分辨率重构图像质量评价模型的建立方法,首先分别对低分辨率图像以及高分辨率图像进行显著性检测,从而提取图像的显著性特征;其次将原图像与显著性特征相乘,并对相乘所得图像进行DWT变化,提取图像中的高频信息,并计算出高分辨率图像相对于低分辨率图像的信息增益;然后采用LBP算子提取低分辨率图像和高分辨率图像的纹理特征,并结合图像显著特征,通过直方图来比较低分辨率和高分辨率图像的纹理相似度;最终结合步骤二得到的信息增益和步骤三得到的纹理相似度,构建半参考型超分辨率重构图像质量评价模型。
搜索关键词: 一种 参考 分辨率 构图 质量 评价 模型 建立 方法
【主权项】:
1.一种半参考型超分辨率重构图像质量评价模型的建立方法,其特征在于包括:步骤一:分别对低分辨率图像以及高分辨率图像进行显著性检测,从而提取图像的显著性特征;步骤二:将原图像与显著性特征相乘,并对相乘所得图像进行DWT变化,提取图像中的高频信息,并计算出高分辨率图像相对于低分辨率图像的信息增益;步骤三:采用LBP算子提取低分辨率图像和高分辨率图像的纹理特征,并结合图像显著特征,通过直方图来比较低分辨率和高分辨率图像的纹理相似度;步骤四:结合步骤二得到的信息增益和步骤三得到的纹理相似度,构建半参考型超分辨率重构图像质量评价模型。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于江苏商贸职业学院,未经江苏商贸职业学院许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201811213803.X/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top