[发明专利]贮存寿命的评估方法、模型的建立方法和相关设备在审
| 申请号： | 201811214435.0 | 申请日： | 2018-10-18 |
| 公开（公告）号： | CN109460584A | 公开（公告）日： | 2019-03-12 |
| 发明（设计）人： | 韩朝 | 申请（专利权）人： | 北京电子工程总体研究所 |
| 主分类号： | G06F17/50 | 分类号： | G06F17/50 |
| 代理公司： | 北京正理专利代理有限公司 11257 | 代理人： | 付生辉 |
| 地址： | 100854*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明涉及产品保存领域，尤其涉及一种贮存寿命的评估方法、寿命评估模型的建立方法、贮存寿命的评估设备、寿命评估模型的建立设备和存储介质。用于计算产品的贮存环境为非恒定温度时，产品的贮存寿命。本发明实施例的贮存寿命的评估方法，包括获取贮存环境温度谱，根据所述贮存环境温度谱，设定N个区间信息，每一区间信息包括一特征温度和一持续时间；利用预存的寿命评估模型，计算每一特征温度对应的贮存寿命；获取每一特征温度对应的权重值，权重值表示对贮存寿命的影响程度；将每一特征温度的贮存寿命和权重值的乘积求和，得到所述产品的贮存寿命。从而，产品的贮存环境即使为非恒定温度，本发明实施例仍可准确计算出产品的贮存寿命。 | ||
| 搜索关键词： | 贮存寿命 贮存 寿命评估 权重 区间信息 非恒定 温度谱 评估 产品保存 存储介质 建立设备 评估设备 求和 预存 | ||
【主权项】：
1.一种贮存寿命的评估方法，其特征在于，包括：获取贮存环境温度谱，所述贮存环境温度谱表示产品的贮存环境在预设时间段的非恒定温度；根据所述贮存环境温度谱，设定N个区间信息，每一区间信息包括一特征温度和一持续时间，不同持续时间为所述预设时间段内的不同时间段，所述N为大于等于1的正整数；利用预存的寿命评估模型，计算每一特征温度对应的贮存寿命；获取每一特征温度对应的权重值，权重值表示对贮存寿命的影响程度；将每一特征温度的贮存寿命和权重值的乘积求和，得到所述产品的贮存寿命。
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