[发明专利]适用于太赫兹频段高反射材料介电参数测量装置及方法有效
| 申请号： | 201811219803.0 | 申请日： | 2018-10-19 |
| 公开（公告）号： | CN109188105B | 公开（公告）日： | 2020-10-13 |
| 发明（设计）人： | 蔡禾;张景;孙金海;郑岩;张旭涛;徐颖 | 申请（专利权）人： | 北京环境特性研究所 |
| 主分类号： | G01R27/26 | 分类号： | G01R27/26 |
| 代理公司： | 北京格允知识产权代理有限公司 11609 | 代理人： | 周娇娇 |
| 地址： | 100854*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种适用于太赫兹频段高反射材料介电参数测量装置及方法，该装置包括参考板、透射测量模块、反射测量模块和计算模块；该方法采用部分透射、部分反射的材料作为参考板，通过对参考板的透射测量，获得其复折射率，并推算其在设定入射角度下的反射率；分别测量参考板和待测材料板在同一设定入射角度下反射的太赫兹波能量，并结合推算的参考板的反射率，计算待测材料板的反射率；根据测量频段待测材料板的反射率及外推反射率，计算待测材料板引起的相移，从而得到待测材料板的复介电参数。该装置及方法基于光纤耦合的太赫兹时域光谱技术，特别适用于太赫兹频段高反射材料的介电参数的测量，有助于提高反射率、介电参数测量的准确度。 | ||
| 搜索关键词： | 适用于 赫兹 频段 反射 材料 参数 测量 装置 方法 | ||
【主权项】：
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