[发明专利]一种太赫兹波反射测量系统入射角确定方法及装置有效
| 申请号： | 201811219808.3 | 申请日： | 2018-10-19 |
| 公开（公告）号： | CN109211843B | 公开（公告）日： | 2021-03-16 |
| 发明（设计）人： | 孙金海;蔡禾;郑岩;张旭涛;张景;刘永强;巢增明;殷红成 | 申请（专利权）人： | 北京环境特性研究所 |
| 主分类号： | G01N21/55 | 分类号： | G01N21/55;G01N21/3586;G01N21/3563 |
| 代理公司： | 北京格允知识产权代理有限公司 11609 | 代理人： | 周娇娇 |
| 地址： | 100854*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种太赫兹波反射测量系统入射角确定方法，包括太赫兹波透射测量获取第一标定板和第二标定板分别作为被测样品以及无被测样品时的太赫兹波透射电场强度，得到第一标定板和第二标定板的复折射率；在某一入射角度下，太赫兹波反射测量获取第一标定板和第二标定板分别反射的太赫兹波反射电场强度；根据第一标定板和第二标定板的复折射率及菲涅尔公式分别求得二者反射系数表达式，结合二者反射的太赫兹波反射电场强度之比，计算太赫兹波反射测量的入射角。本发明还涉及一种太赫兹波反射测量系统入射角确定装置。该方法及装置通过计算准确获得太赫兹波反射测量的入射角度，解决了现有技术中依赖角度仪读取无法精确确定入射角度的难题。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 赫兹 反射 测量 系统 入射角 确定 方法 装置 | ||
【主权项】：
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