[发明专利]一种CMP后清洗方法在审

专利信息
申请号: 201811229584.4 申请日: 2018-10-22
公开(公告)号: CN111069115A 公开(公告)日: 2020-04-28
发明(设计)人: 姬颖伦;蔡长益 申请(专利权)人: 长鑫存储技术有限公司
主分类号: B08B1/02 分类号: B08B1/02;H01L21/02
代理公司: 北京律智知识产权代理有限公司 11438 代理人: 吴娅妮;于宝庆
地址: 230000 安徽省合肥市*** 国省代码: 安徽;34
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摘要: 发明一实施方式提供了一种CMP后清洗方法,包括将PVA清洗刷在浸泡液中进行浸泡处理;以及使用浸泡后的PVA清洗刷对晶片进行清洗;其中,所述浸泡液为四甲基氢氧化铵和NH3·H2O的混合溶液。本发明一实施方式的方法,通过浸泡液对PVA清洗刷进行处理,可使PVA清洗刷表面的ζ‑电位为负,而污染物颗粒表面也带负电,电性相反可以避免颗粒物粘附在清洗刷表面对晶片造成二次污染。
搜索关键词: 一种 cmp 清洗 方法
【主权项】:
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