[发明专利]一种CMP后清洗方法在审
申请号: | 201811229584.4 | 申请日: | 2018-10-22 |
公开(公告)号: | CN111069115A | 公开(公告)日: | 2020-04-28 |
发明(设计)人: | 姬颖伦;蔡长益 | 申请(专利权)人: | 长鑫存储技术有限公司 |
主分类号: | B08B1/02 | 分类号: | B08B1/02;H01L21/02 |
代理公司: | 北京律智知识产权代理有限公司 11438 | 代理人: | 吴娅妮;于宝庆 |
地址: | 230000 安徽省合肥市*** | 国省代码: | 安徽;34 |
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摘要: |
本发明一实施方式提供了一种CMP后清洗方法,包括将PVA清洗刷在浸泡液中进行浸泡处理;以及使用浸泡后的PVA清洗刷对晶片进行清洗;其中,所述浸泡液为四甲基氢氧化铵和NH |
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搜索关键词: | 一种 cmp 清洗 方法 | ||
【主权项】:
暂无信息
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