[发明专利]基于近场包围面扫描极化散射数据的目标外形反演方法在审

专利信息
申请号: 201811230301.8 申请日: 2018-10-22
公开(公告)号: CN109633583A 公开(公告)日: 2019-04-16
发明(设计)人: 李永晨;梁子长 申请(专利权)人: 上海无线电设备研究所
主分类号: G01S7/41 分类号: G01S7/41;G06F17/16
代理公司: 上海元好知识产权代理有限公司 31323 代理人: 张妍
地址: 200090 *** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明涉及一种基于近场包围面扫描极化散射数据的目标外形反演方法,包含以下步骤:S1、按目标长度方向,构建目标近场扫描椭圆柱状包围面;S2、采用两个正交偶极子作为近场扫描的发射天线与接收天线,获取目标椭圆柱状包围面上的近场散射函数的分布数据;S3、计算目标近场散射函数的分布数据的Huynen参数;S4、基于Huynen参数,对目标外形轮廓特征进行反演。本发明能够实现不同极化状态下目标强散射源或散射中心的诊断与定位,为雷达目标低可探测的几何外形设计提供理论数据参考,并可利用目标几何外形引起的极化参数变化为雷达目标探测与识别提供重要的参考依据。
搜索关键词: 近场 目标外形 反演 包围 分布数据 近场扫描 雷达目标 散射函数 散射数据 椭圆柱状 极化 面扫描 正交偶极子 参考依据 发射天线 获取目标 极化参数 极化状态 几何外形 计算目标 接收天线 理论数据 轮廓特征 目标几何 散射中心 可探测 强散射 构建 探测 诊断 参考
【主权项】:
1.一种基于近场包围面扫描极化散射数据的目标外形反演方法,其特征在于,包含以下步骤:S1、按目标长度方向,构建目标近场扫描椭圆柱状包围面;S2、采用两个正交偶极子作为近场扫描的发射天线与接收天线,获取目标椭圆柱状包围面上的近场散射函数的分布数据;S3、计算目标近场散射函数的分布数据的Huynen参数;S4、基于Huynen参数,对目标外形轮廓特征进行反演。
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