[发明专利]自测试电路和检查信号通过信号路径的完整性的方法在审
| 申请号： | 201811233164.3 | 申请日： | 2018-10-23 |
| 公开（公告）号： | CN109883701A | 公开（公告）日： | 2019-06-14 |
| 发明（设计）人： | 朱利安·弗朗切蒂 | 申请（专利权）人： | 斯凯孚公司 |
| 主分类号： | G01M13/045 | 分类号： | G01M13/045;G01H11/08 |
| 代理公司： | 北京智沃律师事务所 11620 | 代理人： | 王继胜 |
| 地址： | 瑞典*** | 国省代码： | 瑞典;SE |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 示例提供了自测试电路。自测试电路包括：输入电路；测试电路；和待测试电路，其联接在所述输入电路与所述测试电路之间，并且至少包括压电晶体。所述输入电路被配置成产生包括了至少正弦信号的预定义的电信号，并将其传输通过至少所述待测试电路的压电晶体以产生输出信号。所述测试电路被配置成分析所述输出信号。 | ||
| 搜索关键词： | 自测试电路 测试电路 输入电路 待测试电路 压电晶体 产生输出信号 检查信号 输出信号 信号路径 正弦信号 预定义 配置 联接 传输 分析 | ||
【主权项】：
1.一种自测试电路，包括：输入电路；测试电路；和待测试电路，其联接在所述输入电路与所述测试电路之间，并且至少包括压电晶体；其中，所述输入电路被配置成产生包括了至少一个正弦信号的预定义的电信号，并将其传输通过至少所述待测试电路的压电晶体以产生输出信号，并且所述测试电路被配置成分析所述输出信号。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于斯凯孚公司，未经斯凯孚公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201811233164.3/，转载请声明来源钻瓜专利网。
