[发明专利]基于电压斩波的窃电事件检测方法有效

专利信息
申请号: 201811233876.5 申请日: 2018-10-23
公开(公告)号: CN109490620B 公开(公告)日: 2020-10-27
发明(设计)人: 明晋平;周伟光;郑哲;颜如斌 申请(专利权)人: 宁波三星智能电气有限公司
主分类号: G01R22/06 分类号: G01R22/06;G01R11/24
代理公司: 宁波诚源专利事务所有限公司 33102 代理人: 袁忠卫;孙盼峰
地址: 315031 浙江*** 国省代码: 浙江;33
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摘要: 发明涉及一种基于电压斩波的窃电事件检测方法,该发明通过预先设置窃电状态变量和预设时间间隔,由电能表内的主控芯片按照预设时间间隔获取计量芯片内的电压有效值,并根据设置好的安全裕量和电能表的当前电压的理论正弦波峰值,得到过压检测阈值且将该过压检测阈值写入到计量芯片的过压阈值及寄存器中;在按照预设采样个数间隔读取电压波形在一个完整周期内的采样点数据集合后,依次计算采样点数据集合内相邻采样点连线斜率的变化率,查找记录转折点的总个数,一旦所记录的转折点个数大于两个即判断当前电能表存在电压斩波窃电事件,从而实现了针对所述电能表的电压斩波窃电事件的实时准确检测。
搜索关键词: 基于 电压 事件 检测 方法
【主权项】:
1.基于电压斩波的窃电事件检测方法,用于安装有过压检测功能计量芯片的电能表,其特征在于,所述针对电压斩波窃电事件的检测方法包括如下步骤1~步骤10:步骤1,设置窃电状态变量和预设时间间隔,并将所述窃电状态变量初始化为无窃电状态;其中,所述预设时间间隔标记为T1;步骤2,所述电能表的主控芯片按照所述预设时间间隔从该电能表的计量芯片获取一次电压有效值;其中,获取的所述电压有效值标记为URMS;步骤3,所述电能表的主控芯片根据获取的所述电压有效值,计算当前电压的理论正弦波峰值;其中,所述理论正弦波峰值标记为Um步骤4,设置安全裕量,并根据所述安全裕量以及所得电能表的当前电压的理论正弦波峰值,得到过压检测阈值;其中,所述过压检测阈值标记为UPEAK,UPEAK=Um+△U,△U为所述安全裕量;步骤5,将所得过压检测阈值写入到计量芯片内的过压阈值寄存器,以该过压检测阈值作为所述计量芯片检测过压事件用的阈值,并打开该计量芯片的过压检测功能;步骤6,当所述计量芯片产生过压中断时,转入步骤7;否则,转入步骤10;步骤7,由所述电能表的主控芯片发送控制指令打开计量芯片的ADC采样缓存功能,按照预设采样时间间隔读取电压波形在一个完整周期内的采样点数据集合;其中,所述预设采样时间间隔标记为ΔT,读取的电压波形在一个完整周期T内的采样点数据集合标记为{S[1],S[2],…,S[N]};N≥2;步骤8,依次计算该采样点数据集合内相邻两个采样点连线的斜率的变化率,查找得到转折点,并记录存在的转折点个数;其中,所述采样点数据集合内相邻两个采样点连线的斜率标记为K[n],所述相邻两个采样点连线的斜率的变化率标记为k[n],所述转折点为斜率的变化率出现正负符号翻转时所对应符号翻转后的采样点:相邻两个采样点连线的斜率K[n]=(S[n+1]‑S[n])/ΔT;对应所述相邻两个采样点连线的斜率的变化率k[n]=(K[n]‑K[n‑1])/ΔT=[(S[n+1]‑S[n])‑(S[n]‑S[n‑1])]/ΔT;S[n‑1]表示所述采样点数据集合内的第n‑1个采样点数据,S[n]表示所述采样点数据集合内的第n个采样点数据,S[n+1]表示所述采样点数据集合内的第n+1个采样点数据;2≤n
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