[发明专利]一种断层多边形绘制图自动校正方法及装置有效

专利信息
申请号: 201811234279.4 申请日: 2018-10-23
公开(公告)号: CN109444953B 公开(公告)日: 2020-06-12
发明(设计)人: 储伟文;李昂 申请(专利权)人: 储伟文
主分类号: G01V1/28 分类号: G01V1/28;G01V1/36
代理公司: 北京智行阳光知识产权代理事务所(普通合伙) 11738 代理人: 黄锦阳
地址: 150006 黑龙江省哈尔*** 国省代码: 黑龙江;23
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摘要: 发明公开了一种断层多边形绘制图自动校正方法及装置,该方法包括:获取通过机器自动识别绘制的原始断层多边形绘制图;分别获取所有对称样点对的坐标数据;根据对称样点对中上盘的样点纵坐标数据和与之对应的下盘的样点纵坐标数据之间的大小关系,筛选交叉点并移除,获取第一断层多边形绘制图;确定第一断层多边形绘制图中每一对对称样点对之间的间距,并获取最大间距,及第一样点和第二样点;按照第二预设规则降低基准间距后,作为除中心对称样点对之外的对称样点对之间的间距调整除中心对称样点对之外的对称样点对的纵坐标,获取第二断层多边形绘制图;对第二断层多边形绘制图中的样点进行加密,并进行平滑处理。
搜索关键词: 一种 断层 多边形 绘制 自动 校正 方法 装置
【主权项】:
1.一种断层多边形绘制图自动校正方法,其特征在于,所述方法包括:获取通过机器自动识别绘制的原始断层多边形绘制图;从所述原始断层多边形绘制图中分别获取所有对称样点对的坐标数据,其中,所述对称样点对为上盘的样点和下盘的样点之间存在对称关系;根据所述对称样点对中上盘的样点纵坐标数据和与所述上盘的样点对称的下盘的样点纵坐标数据之间的大小关系,筛选所述原始断层多边形绘制图中的交叉点;按照第一预设规则将所述交叉点进行移除,获取第一断层多边形绘制图;确定所述第一断层多边形绘制图中每一对对称样点对之间的间距,并获取最大间距,及与所述最大间距对应的上盘上的第一样点和下盘上的第二样点;分别以所述第一样点和第二样点为中心对称样点对,以所述最大间距为基准间距,按照第二预设规则降低所述基准间距后,作为除所述中心对称样点对之外的对称样点对之间的间距调整所述除所述中心对称样点对之外的对称样点对的纵坐标,获取第二断层多边形绘制图,其中,远离所述中心对称样点对的间距逐渐减小,直至为零;采用重采样方法加密所述第二断层多边形绘制图中的样点;对所述加密后的样点进行平滑处理,获取最终的断层多边形会制图。
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