[发明专利]一种集成电路的安全测试方法与系统有效
| 申请号： | 201811234934.6 | 申请日： | 2018-10-23 |
| 公开（公告）号： | CN109581183B | 公开（公告）日： | 2020-07-10 |
| 发明（设计）人： | 叶靖;李文杰;李晓维;李华伟;胡瑜;沈红伟;钟明琛 | 申请（专利权）人： | 中国科学院计算技术研究所 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京律诚同业知识产权代理有限公司 11006 | 代理人： | 祁建国;梁挥 |
| 地址： | 100080 北*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种集成电路的安全测试方法与结构。本发明包括四种工作模式：注册模式，用于获取物理不可克隆函数的所有激励响应对；认证模式，用于验证测试者的权限；测试模式，用于测试集成电路；功能模式，用于电路正常功能运行。本发明还包括三种模块：Bias PUF组模块，用于对测试者的权限进行认证；Multiplexer模块，控制扫描链上的数据流，减少对测试时间的影响；Mask模块，用于保护扫描链上的关键数据不被泄露。本发明能够在不牺牲可测试性的前提下保证扫描链的安全性。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 集成电路 安全 测试 方法 系统 | ||
【主权项】：
1.一种集成电路的安全测试方法，其特征在于，包括：步骤1、通过对多个物理不可克隆函数进行注册，得到每一个该物理不可克隆函数值响应为特定值时的激励值，集合该激励值作为密钥；步骤2、用户输入密钥至该多个物理不可克隆函数，集合每一个该物理不可克隆函数的响应值，生成多个响应值，对该多个响应值进行逻辑与操作，得到验证结果，判断该验证结果是否等于该特定值，若是则输入测试向量至扫描链，对待安全测试的集成电路进行检测，否则，禁止该用户使用扫描链。
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