[发明专利]基于难测路径选择的集成电路检测方法和系统

摘要

本发明提出一种集成电路难测路径的选择方法。本发明包括：利用动静态协同分析，计算和校准逻辑值为0或为1的概率；根据所计算概率，从输出向输入方向寻找跳变沿传输概率小的路径；为所选路径生成测试向量，判断路径有效性。本发明通过动静态协同分析方法提高了概率计算精度，进而有效寻找出集成电路中的难测路径，为保证集成电路测试覆盖率提供重要支撑。

主权项

1.一种基于难测路径选择的集成电路检测方法，其特征在于，包括：步骤1、获取待测集成电路，根据该待测集成电路中逻辑门的逻辑及连接顺序，确定该待测集成电路中每一个逻辑门输出特定逻辑值的输出概率；步骤2、根据该输出概率，得到该待测集成电路每一条传播路径的逻辑值跳变传播概率，并寻找低于预设值的该逻辑值跳变传播概率对应的传播路径作为待选路径；步骤3、生成测试向量，并判断该测试向量是否能将一个逻辑值跳变从该待选路径的输入端向输出端传输，若是，则将该待选路径作为难测路径，用于检测硬件木马，否则，则删除该待选路径。