[发明专利]一种基于几何基元的零件位姿获取方法有效
| 申请号： | 201811242566.X | 申请日： | 2018-10-24 |
| 公开（公告）号： | CN109448034B | 公开（公告）日： | 2021-10-01 |
| 发明（设计）人： | 林俊义;江开勇;童磊;黄常标 | 申请（专利权）人： | 华侨大学 |
| 主分类号： | G06T7/33 | 分类号： | G06T7/33;G06T7/70 |
| 代理公司： | 厦门市首创君合专利事务所有限公司 35204 | 代理人： | 张松亭;李艾华 |
| 地址： | 362000 福建省*** | 国省代码： | 福建;35 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种基于几何基元的零件位姿获取方法，属于视觉定位领域；零件位姿信息获取通常是通过点云配准方法来获取的，现有的特征描述子配准方法存在特征点提取时间长、粗配准后需要通过ICP进行精配准才能达到精度要求的问题，而本发明提出利用几何基元获取零件位姿的方法。本发明方法通过提取零件点云中的几何基元特征(平面，圆柱面)，并根据基元间的位置关系构建局部坐标系以及局部坐标特征，直接通过局部坐标特征匹配计算点云与模板的局部坐标系转换关系，从而获取零件点云位姿；本发明无需进行精配准即可获得准确的位姿精度，计算效率高。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 几何 零件 获取 方法 | ||
【主权项】：
1.一种基于几何基元的零件位姿获取方法，其特征在于，包括：通过三维点云扫描设备获取待抓取零件点云数据；使用RANSAC算法提取零件点云中的几何基元特征，并根据基元间的位置关系构建局部坐标系以及局部坐标特征；所述几何基元特征包括平面和圆柱面；通过局部坐标特征匹配计算零件点云与模板点云的局部坐标系转换关系以获取零件点云位姿。
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