[发明专利]场效应管器件及其制造方法在审
申请号: | 201811242745.3 | 申请日: | 2018-10-24 |
公开(公告)号: | CN111092120A | 公开(公告)日: | 2020-05-01 |
发明(设计)人: | 冯鹏;陈面国;蔡宗叡 | 申请(专利权)人: | 长鑫存储技术有限公司 |
主分类号: | H01L29/78 | 分类号: | H01L29/78;H01L29/06;H01L21/336;H01L29/10 |
代理公司: | 北京律智知识产权代理有限公司 11438 | 代理人: | 袁礼君;阚梓瑄 |
地址: | 230000 安徽省合肥市*** | 国省代码: | 安徽;34 |
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摘要: | 本发明提出一种场效应管器件及其制造方法,涉及半导体生产技术领域。所述场效应管器件包括:衬底;阱区,位于所述衬底中,注入有第一型态的离子,所述阱区包含沟道区、轻掺杂区、源区与漏区;栅极结构,位于所述衬底上,所述栅极结构位于沟道区正上方;其中,沟道区包括反态掺杂区,所述反态掺杂区注入有与第一型态相反型态的反态离子,且相对于所述沟道区的中心轴对称分布。本发明提供的场效应管器件的沟道区包括注入有反态离子的反态掺杂区,该反态掺杂区相对于沟道区的中心轴对称分布,使得器件的导电沟道变宽,减少了电子形成热载流子的机率,从而降低器件的热载流子注入效应,使得器件的饱和电流增加,阈值电压降低,提高了器件性能。 | ||
搜索关键词: | 场效应 器件 及其 制造 方法 | ||
【主权项】:
暂无信息
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