[发明专利]一种微波光子延时测量校准装置在审
| 申请号： | 201811250293.3 | 申请日： | 2018-10-25 |
| 公开（公告）号： | CN109547098A | 公开（公告）日： | 2019-03-29 |
| 发明（设计）人： | 金晓峰;秦东林;杜一杰;金向东;余显斌;谭庆景;王国永 | 申请（专利权）人： | 浙江大学 |
| 主分类号： | H04B10/079 | 分类号： | H04B10/079;H04B10/61;H04B10/071 |
| 代理公司： | 杭州天勤知识产权代理有限公司 33224 | 代理人： | 王琛 |
| 地址： | 310013 浙江*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种微波光子延时测量校准装置，包括延时测量系统、相位检测校准系统以及待测光路三部分；相位检测校准系统内部的信号发生器产生的一组单频信号可以选用其它多个不同的频点，每个频点之间满足一定的倍数关系，通过检测参考光链路与被测光链路之间每个频点的差分相位，并经相位量化以校准微波光子链路延时。本发明装置在原理方案上排除了相位测量中360°相位模糊问题，利用高稳定的氢钟以及光延迟模型可以实现对高精度光延时量测量装置的精确校准，更大的延时量测量可以利用更多的标准频率信号。 | ||
| 搜索关键词： | 微波光子 频点 相位检测 校准系统 校准装置 延时测量 校准 测光 链路 标准频率信号 相位模糊问题 延时测量系统 信号发生器 倍数关系 差分相位 单频信号 链路延时 相位测量 相位量化 参考光 高稳定 光延迟 光延时 量测量 延时量 氢钟 测量 检测 | ||
【主权项】：
1.一种微波光子延时测量校准装置，其特征在于：包括延时测量系统、相位检测校准系统以及待测光路三部分；其中：所述延时测量系统通过向待测光路发出一路光信号以测量待测光路的光延时量，并根据测量结果动态调整待测光路中主动光学补偿器内部光路延时，以保证待测光路的光延时量在所需的控制精度范围内；所述相位检测校准系统将一组不同频率的单频信号依次调制到光信号上，通过向待测光路发出该光信号以测量单频信号经待测光路延时后与原信号之间的相位差，通过对相位差进行量化，进而根据量化结果通过延时校准算法计算出不同时间尺度下待测光路的光延时量。
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