[发明专利]半导体封装件在审

专利信息
申请号: 201811250307.1 申请日: 2018-10-25
公开(公告)号: CN109950227A 公开(公告)日: 2019-06-28
发明(设计)人: 孙永训;崔桢焕;玄锡勋 申请(专利权)人: 三星电子株式会社
主分类号: H01L23/52 分类号: H01L23/52;H01L27/02
代理公司: 北京铭硕知识产权代理有限公司 11286 代理人: 尹淑梅;薛义丹
地址: 韩国京畿*** 国省代码: 韩国;KR
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摘要: 提供了一种半导体封装件。该半导体封装件包括:第一层,包括第一半导体芯片和第一通孔;第一再分布层,设置在第一层的表面上,并且包括第一‑第一布线和第二‑第一布线;以及第二层,包括第二半导体芯片,并且堆叠在第一层上。第一半导体芯片包括第一‑第一缓冲器,第一‑第一缓冲器电连接在第一‑第一布线与第二‑第一布线之间。
搜索关键词: 布线 半导体封装件 半导体芯片 第一层 缓冲器 再分布层 电连接 堆叠 通孔
【主权项】:
1.一种半导体封装件,所述半导体封装件包括:第一层,包括第一半导体芯片和第一通孔;第一再分布层,设置在第一层的表面上,并且包括第一‑第一布线和第二‑第一布线;以及第二层,包括第二半导体芯片,并且堆叠在第一层上,其中,第一半导体芯片包括第一‑第一缓冲器,第一‑第一缓冲器电连接在第一‑第一布线与第二‑第一布线之间。
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