[发明专利]一种基于自准直跟踪的动基座姿态校准方法有效

专利信息
申请号: 201811251937.0 申请日: 2018-10-25
公开(公告)号: CN109459054B 公开(公告)日: 2022-07-26
发明(设计)人: 商秋芳;周玉堂;李永刚;赵功伟;张忠武;王震;王蕾;王强;张俊杰 申请(专利权)人: 北京航天计量测试技术研究所;中国运载火箭技术研究院
主分类号: G01C25/00 分类号: G01C25/00
代理公司: 核工业专利中心 11007 代理人: 吕岩甲
地址: 100076 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明属于惯导系统姿态校准技术领域,具体涉及一种基于自准直跟踪的动基座姿态校准方法。将惯导系统安装在三轴摇摆台的内框台面上,使三轴摇摆台的外框转动激励惯导系统的航向角变化,中框转动激励惯导系统的俯仰角变化,内框转动激励惯导系统的横滚角变化;使动态自准直跟踪测量仪的目镜首先与北向基准镜自准直,记录下此时动态自准直跟踪测量仪的输出值;然后旋转动态自准直跟踪测量仪,使其与惯导系统方位基准镜自准直,再次记录下动态自准直跟踪测量仪的输出值,此时将北向基准镜的大地方位角引入到惯导系统方位基准镜上。本发明利用动态自准直跟踪测量仪的自动跟踪和动态测角功能,实现静态和动态条件下对惯导系统姿态的实时校准。
搜索关键词: 一种 基于 跟踪 基座 姿态 校准 方法
【主权项】:
1.一种基于自准直跟踪的动基座姿态校准方法,其特征在于:步骤如下:(1)将惯导系统安装在三轴摇摆台的内框台面上,调整安装位置,使其X轴、Y轴、Z轴与三轴摇摆台的内框轴、中框轴和外框轴对齐,从而使三轴摇摆台的外框转动激励惯导系统的航向角变化,中框转动激励惯导系统的俯仰角变化,内框转动激励惯导系统的横滚角变化;(2)调整动态自准直跟踪测量仪的底座,使其工作于调平状态;手动或自动操作,使动态自准直跟踪测量仪的目镜首先与北向基准镜自准直,记录下此时动态自准直跟踪测量仪的输出值;然后旋转动态自准直跟踪测量仪,使其与惯导系统方位基准镜自准直,再次记录下动态自准直跟踪测量仪的输出值,此时将北向基准镜的大地方位角引入到惯导系统方位基准镜上;(3)当三轴摇摆台摇摆时,动态自准直跟踪测量仪对惯导系统进行跟踪测量;同步采集动态自准直跟踪测量仪的俯仰角和方位角,惯导系统的俯仰角、横滚角和航向角;将动态自准直跟踪测量仪通过引入标准大地方位角和同步采样合成后的方位角作为方位标准值,将惯导系统同步时刻测量出的航向角作为被测值,两者的差值即为航向姿态误差;将动态自准直跟踪测量仪同步采样后的俯仰角与视准轴处于水平时角度的差作为水平角度标准值,将惯导系统同步时刻测量出的俯仰角和横滚角作为被测值,两者的差即为水平姿态误差。
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