[发明专利]半导体元件及其制造方法有效

专利信息
申请号: 201811257747.X 申请日: 2018-10-26
公开(公告)号: CN109801968B 公开(公告)日: 2021-10-08
发明(设计)人: 郑志昌;朱馥钰;柳瑞兴;雷明达;黄士芬 申请(专利权)人: 台湾积体电路制造股份有限公司
主分类号: H01L29/78 分类号: H01L29/78;H01L29/423;H01L29/06;H01L21/336
代理公司: 隆天知识产权代理有限公司 72003 代理人: 张福根;冯志云
地址: 中国台*** 国省代码: 台湾;71
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摘要: 本公开实施例提供一种半导体元件,包括具有元件区域的半导体基板。隔离结构于封闭路径中横向延伸,以标定元件区域。第一源极/漏极区域及第二源极/漏极区域,位于元件区域中且横向相隔。第一源极/漏极区域的侧壁与隔离结构于第一隔离结构侧壁直接接触。第一源极/漏极区域的其余侧壁与隔离结构分隔。选择性导电沟道位于元件区域中,选择性导电沟道自第一源极/漏极区域横向延伸至第二源极/漏极区域。半导体元件还包括具有中央部分及第一外围部分的平板。中央部分覆盖选择性导电沟道,且第一外围部分朝第一隔离结构侧壁突出于中央部分。
搜索关键词: 半导体 元件 及其 制造 方法
【主权项】:
1.一种半导体元件,包括:一半导体基板,包括一元件区域;一隔离结构,于一封闭路径中横向延伸,以标定该元件区域;一第一源极/漏极区域及一第二源极/漏极区域,位于该元件区域中,且横向相隔,其中该第一源极/漏极区域的一侧壁与该隔离结构于一第一隔离结构侧壁直接接触,且其中该第一源极/漏极区域的其余侧壁与该隔离结构分隔;一选择性导电沟道,位于该元件区域中,其中该选择性导电沟道自该第一源极/漏极区域横向延伸至该第二源极/漏极区域;及一平板,包括一中央部分及一第一外围部分,其中该中央部分覆盖该选择性导电沟道,且其中该第一外围部分朝该第一隔离结构侧壁突出于该中央部分。
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