[发明专利]半导体元件及其制造方法有效
申请号: | 201811257747.X | 申请日: | 2018-10-26 |
公开(公告)号: | CN109801968B | 公开(公告)日: | 2021-10-08 |
发明(设计)人: | 郑志昌;朱馥钰;柳瑞兴;雷明达;黄士芬 | 申请(专利权)人: | 台湾积体电路制造股份有限公司 |
主分类号: | H01L29/78 | 分类号: | H01L29/78;H01L29/423;H01L29/06;H01L21/336 |
代理公司: | 隆天知识产权代理有限公司 72003 | 代理人: | 张福根;冯志云 |
地址: | 中国台*** | 国省代码: | 台湾;71 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本公开实施例提供一种半导体元件,包括具有元件区域的半导体基板。隔离结构于封闭路径中横向延伸,以标定元件区域。第一源极/漏极区域及第二源极/漏极区域,位于元件区域中且横向相隔。第一源极/漏极区域的侧壁与隔离结构于第一隔离结构侧壁直接接触。第一源极/漏极区域的其余侧壁与隔离结构分隔。选择性导电沟道位于元件区域中,选择性导电沟道自第一源极/漏极区域横向延伸至第二源极/漏极区域。半导体元件还包括具有中央部分及第一外围部分的平板。中央部分覆盖选择性导电沟道,且第一外围部分朝第一隔离结构侧壁突出于中央部分。 | ||
搜索关键词: | 半导体 元件 及其 制造 方法 | ||
【主权项】:
1.一种半导体元件,包括:一半导体基板,包括一元件区域;一隔离结构,于一封闭路径中横向延伸,以标定该元件区域;一第一源极/漏极区域及一第二源极/漏极区域,位于该元件区域中,且横向相隔,其中该第一源极/漏极区域的一侧壁与该隔离结构于一第一隔离结构侧壁直接接触,且其中该第一源极/漏极区域的其余侧壁与该隔离结构分隔;一选择性导电沟道,位于该元件区域中,其中该选择性导电沟道自该第一源极/漏极区域横向延伸至该第二源极/漏极区域;及一平板,包括一中央部分及一第一外围部分,其中该中央部分覆盖该选择性导电沟道,且其中该第一外围部分朝该第一隔离结构侧壁突出于该中央部分。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于台湾积体电路制造股份有限公司,未经台湾积体电路制造股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201811257747.X/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:半导体结构
- 下一篇:鳍式场效晶体管(FinFET)装置结构
- 同类专利
- 专利分类