[发明专利]一种星载微波光学复合雷达的三轴标定系统及方法有效
| 申请号： | 201811258136.7 | 申请日： | 2018-10-26 |
| 公开（公告）号： | CN109633575B | 公开（公告）日： | 2020-07-31 |
| 发明（设计）人： | 胡鑫;黄勇;江利中;衡燕;邹波;卢岩辉 | 申请（专利权）人： | 上海无线电设备研究所 |
| 主分类号： | G01S7/40 | 分类号： | G01S7/40 |
| 代理公司： | 上海元好知识产权代理有限公司 31323 | 代理人： | 包姝晴;徐雯琼 |
| 地址： | 200090 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种星载微波光学复合雷达的三轴标定系统及方法，标定系统包含：目标模拟子系统、测绘子系统、雷达测试平台、雷达装置；雷达测试平台包括支撑平台、雷达安装架、二维转台；目标模拟子系统包括微波及可见光模拟源、目标模拟二维扫描架、微波光学复合模拟前端；测绘子系统包括两台经纬仪、一台激光跟踪仪。标定方法包含：步骤1、调整二维转台使得雷达天线平面与目标模拟平面平行；步骤2、调整微波电轴轴系方位向与目标模拟方位向平行；步骤3、标定雷达天线平面与雷达天线基座棱镜坐标系的关系；步骤4、标定光轴、电轴以及机械轴的关系；步骤5、根据标定结果修正雷达测量结果，标定流程完毕。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 微波 光学 复合 雷达 标定 系统 方法 | ||
【主权项】：
1.一种星载微波光学复合雷达的三轴标定系统，其特征在于，包含：目标模拟子系统、测绘子系统、雷达测试平台、雷达装置；所述雷达装置包含微波光学复合雷达(41)及雷达测控设备；所述雷达测控设备与微波光学复合雷达(41)连接，并控制微波光学复合雷达(41)的工作；所述雷达测试平台包括支撑平台(31)、雷达安装架(32)、二维转台(33)；所述二维转台(33)安装在支撑平台(31)的上面，所述雷达安装架(32)安装在二维转台(33)的上面，所述微波光学复合雷达(41)安装在雷达安装架(32)上；所述目标模拟子系统包括微波及可见光模拟源(11)、目标模拟二维扫描架(13)、微波光学复合模拟前端(12)；所述微波和可见光模拟源(11)与所述微波光学复合雷达(41)连接，并与微波光学复合模拟前端(12)连接，所述微波光学复合模拟前端(12)安装在目标模拟二维扫描架(13)之上；所述微波光学复合雷达(41)与微波光学复合模拟前端(12)在一条水平线上；所述目标模拟二维扫描架(13)具备方位俯仰二维扫描功能以及方位俯仰向上旋转模拟前端的功能；标定过程中所用到的棱镜包含雷达天线基座棱镜(411)、雷达天线侧面棱镜(412)、微波光学复合模拟前端棱镜(121)；所述雷达天线基座棱镜(411)在雷达天线的基座上，所述雷达天线侧面棱镜(412)在雷达天线的侧面，所述微波光学复合模拟前端棱镜(121)在微波光学复合模拟前端的侧面；所述测绘子系统包括第一经纬仪(21)、第二经纬仪(22)、激光跟踪仪(23)；所述激光跟踪仪(23)设置在微波光学复合雷达(41)的一侧，所述第一经纬仪(21)、第二经纬仪(22)设置在微波光学复合雷达(41)的另一侧；所述激光跟踪仪(23)找到微波光学复合雷达(41)天线平面的中心，且通过所述两个经纬仪协同测量天线的转角。
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