[发明专利]一种晶体谐振器测试系统及校准方法有效
| 申请号： | 201811258294.2 | 申请日： | 2018-10-26 |
| 公开（公告）号： | CN109490663B | 公开（公告）日： | 2021-03-19 |
| 发明（设计）人： | 焦玉民;康焱;朱珠 | 申请（专利权）人： | 北京无线电计量测试研究所 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00;G01R35/00 |
| 代理公司： | 北京国昊天诚知识产权代理有限公司 11315 | 代理人： | 马骥;南霆 |
| 地址： | 100854 北京市海*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本申请公开了一种晶体谐振器测试系统，包括频率源、矢量电压表、测试夹具和衰减器，所述频率源和矢量电压表各包括两个输出接口，所述输出接口，用于连接外部标准仪器，进行参数校准，还用于连接测试夹具，形成测试回路，所述频率源，用于产生两路同频同功率激励信号，分别与测试夹具和矢量电压表连接，所述衰减器用于衰减频率源信号，所述矢量电压表，用于测量测试夹具两端矢量信号，所述测试夹具，用于连接待测晶体谐振器。还公开了一种晶体谐振器测试系统校准方法，通过外部标准仪器对频率源和矢量电压表性能测试，经理论修正和系统不确定度分析后，获得系统计量特性。本申请系统结构简单，只增加端口和连接线，不增加系统复杂度，利于推广。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 晶体 谐振器 测试 系统 校准 方法 | ||
【主权项】：
1.一种晶体谐振器测试系统，包括频率源、矢量电压表、测试夹具和衰减器，其特征在于，所述频率源和所述矢量电压表各包括两个输出接口，所述输出接口，用于连接外部标准仪器，进行参数校准，还用于连接测试夹具，形成测试回路；所述频率源，用于产生两路同频同功率激励信号，第一路信号通过所述频率源第一接口输出，与测试夹具第一接口连接，所述频率源第二路信号通过第二接口输出，与所述衰减器一端连接；所述衰减器用于衰减所述频率源信号，另一端与所述矢量电压表第一接口连接；所述矢量电压表，用于测量所述测试夹具两端矢量信号，所述矢量电压表第二接口与所述测试夹具第二接口连接；所述测试夹具，用于连接待测晶体谐振器。
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