[发明专利]分析装置有效

专利信息
申请号: 201811258356.X 申请日: 2018-10-26
公开(公告)号: CN109725043B 公开(公告)日: 2023-02-21
发明(设计)人: 山本明广;志智直人 申请(专利权)人: 爱科来株式会社
主分类号: G01N27/447 分类号: G01N27/447
代理公司: 北京东方亿思知识产权代理有限责任公司 11258 代理人: 张永玉
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明涉及一种分析装置,包括:导入部,包含试样的长方体形状的分析工具被导入到导入部;设置部,在导入部中分析工具被设置于设置部;照射部件,照射部件被插入到形成于分析工具的插入孔并接触到底部,向试样照射光;推压部件,推压部件与照射部件相独立地推压分析工具并将设置于设置部的分析工具夹在推压部件与设置部之间,并且将分析工具保持在预定位置;以及测定部件,测定部件通过从照射部件向设置于设置部的分析工具的试样照射的光,来测定试样的成分。
搜索关键词: 分析 装置
【主权项】:
1.一种分析装置,包括:导入部,包含试样的分析工具被导入到所述导入部;设置部,在所述导入部中所述分析工具被设置于所述设置部;照射部件,所述照射部件被插入到形成于所述分析工具的插入孔并接触到所述插入孔的底部,向所述试样照射光;推压部件,所述推压部件与所述照射部件相独立地推压所述分析工具并将设置于所述设置部的所述分析工具夹在所述推压部件与所述设置部之间,并且将所述分析工具保持在预定位置;以及测定部件,所述测定部件通过从所述照射部件向设置于所述设置部的所述分析工具的所述试样照射的光,来测定所述试样的成分。
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