[发明专利]一种时间统计系统和方法在审
| 申请号： | 201811258545.7 | 申请日： | 2018-10-26 |
| 公开（公告）号： | CN109283833A | 公开（公告）日： | 2019-01-29 |
| 发明（设计）人： | 刘霁阳;张颖;吕泽杉 | 申请（专利权）人： | 北京无线电测量研究所 |
| 主分类号： | G04F10/04 | 分类号： | G04F10/04 |
| 代理公司： | 北京正理专利代理有限公司 11257 | 代理人： | 付生辉;金跃 |
| 地址： | 100851*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本申请实施例提供了一种时间统计系统和方法，该系统包括：第一精计数模块，获取采样脉冲上升沿与使能信号上升沿之间的晶振时间脉冲个数；粗计数模块，获取使能信号为高电平过程中的采样信号脉冲个数；第二精计数模块，获取采样信号脉冲上升沿与使能信号下降沿之间的晶振时钟脉冲个数；时间统计模块，基于上述三种时钟脉冲个数，计算测试过程时间。本申请所述技术方案复用了标准测试系统所必须的使能信号和采样信号脉冲，且测试精度可以达到晶振的精度级别，无需增加计时电路或计时仪器，降低成本且易于工程实现。 | ||
| 搜索关键词： | 使能信号 采样信号 计数模块 时间统计 脉冲 上升沿 晶振 脉冲上升沿 标准测试 采样脉冲 工程实现 计时电路 计时仪器 计算测试 晶振时钟 精度级别 时间脉冲 时钟脉冲 高电平 下降沿 复用 申请 测试 | ||
【主权项】：
1.一种时间统计系统，其特征在于，该系统包括：第一精计数模块，获取采样脉冲上升沿与使能信号上升沿之间的晶振时间脉冲个数；粗计数模块，获取使能信号为高电平过程中的采样信号脉冲个数；第二精计数模块，获取采样信号脉冲上升沿与使能信号下降沿之间的晶振时钟脉冲个数；时间统计模块，基于上述三种时钟脉冲个数，计算测试过程时间。
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