[发明专利]一种红外发射率高精度测试方法在审

专利信息
申请号: 201811267413.0 申请日: 2018-10-29
公开(公告)号: CN109489830A 公开(公告)日: 2019-03-19
发明(设计)人: 何映锋;邓乐武;魏平;王睿;吴杰;张雷 申请(专利权)人: 成都飞机工业(集团)有限责任公司
主分类号: G01J5/10 分类号: G01J5/10
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 610092 四川*** 国省代码: 四川;51
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明公开了一种红外发射率高精度测试方法,本发明通过机械装置精确的将标准参比黑体移至辐射计的视场范围进行测量,解决了周围环境温度变化以及杂散光对测试结果的不良影响,提高了测试的精确度;所述机械装置可以为自动化控制的精确定位的机械手。本发明在测试过程中记录位置信息可以精确的控制位置信息使两者测试的位置信息尽量相同,同时也可以在计算的过程中消除位置信息带来的误差。本发明在检测过程中,通过精确的将待测物体移至辐射计的视场范围进行测试,同时实时记录测试时位置信息,解决了周围环境温度变化和杂散光对测试时产生的辐射信号测量的误差,提高了红外发射率测试的精确度,具有较好的实用性。
搜索关键词: 测试 辐射计 高精度测试 红外发射率 机械装置 杂散光 视场 测量 红外发射率测试 黑体 记录位置信息 控制位置信息 自动化控制 机械手 测试过程 待测物体 辐射信号 实时记录 消除位置 参比 检测
【主权项】:
1.一种红外发射率高精度测试方法,其特征在于,主要包括以下步骤:步骤S200:当黑体加热炉和样品加热炉稳定到测试温度时,则将标准参比黑体的中心区域移动至辐射计的视场范围,记录此时的位置参数信息A,辐射计采集标准参比黑体的辐射信号;步骤S300:将样品加热炉的中心区域移动至辐射计的视场范围,并记录此时的位置信息B,使用辐射计采集标准反射板的辐射信号,然后取出标准反射板,使用辐射计采集样品的辐射信号;从而计算得到材料的发射率。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于成都飞机工业(集团)有限责任公司,未经成都飞机工业(集团)有限责任公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201811267413.0/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top