[发明专利]一种边界扫描测试链路的设计及测试方法

摘要

本发明公开了一种边界扫描测试链路的设计及测试方法，先将设计的边界扫描测试链路添加到被测电路板，再将被测电路板中引脚利用率低的数字芯片按照实现功能划分为不同的功能模块，并采用边界扫描测试链路连接方式连接，形成完整的边界扫描测试总链路，最后对边界扫描测试总链路进行分级测试，找出具体的故障类型和故障位置，并进行结果展示。

主权项

1.一种边界扫描测试链路的设计及测试方法，其特征在于，包括以下步骤：(1)、设计边界扫描测试链路并添加到被测电路板上(1.1)、将被测电路板中引脚利用率低的数字芯片按照实现功能划分为不同的功能模块Mx，在每个功能模块Mx的内部采用边界扫描测试链路连接方式连接；(1.2)、将单个的IC芯片与功能模块Mx之间通过将单个的IC芯片与功能模块Mx之间通过并、串混合的边界扫描测试链路连接方式连接，形成完整的边界扫描测试总链路；(2)、对边界扫描测试总链路进行第一级测试(2.1)、使用外接的JTAG控制器将边界扫描测试向量注入到边界扫描测试总链路中，边界扫描测试向量扫描每个IC芯片的全部引脚，再等待测试响应并接收测试响应向量，然后通过对理想响应向量和接收到的测试响应向量进行分析对比，找出具体某个IC片或某个功能模块Mx出现互联故障；(2.2)、判断找出的功能模块Mx是否故障：根据功能模块Mx与IC芯片具有互联关系，通过带有BS单元的IC芯片在capture状态下捕获找出的功能模块Mx引脚上的值，然后然后在shift状态下移出这部分测试响应向量作为找出的功能模块Mx故障诊断的测试响应向量，然后反馈给上位机，并与上位机中预置的理想测试响应向量进行对比分析，从而判断故障位置，其中，若故障位置不包括找出的功能模块Mx，则测试结束，获取到测试结果；若故障位置为找出的功能模块Mx，则进入步骤(3)；(3)、对找出的功能模块Mx进行第二级测试上位机控制找出的功能模块Mx选通使能信号，再次通过JTAG控制器将找出的功能模块Mx对应的测试向量注入至其中，然后获取找出的功能模块Mx的测试向量和测试响应向量，通过上位机对测试响应向量和预置的理想响应向量进行对比分析，判断出具体的功能模块Mx中的故障位置，再将故障进行隔离，从而得到具体的故障类型和故障位置，测试结束，获取到测试结果；(4)、测试结果分析及展示根据获取到的测试结果分析测试向量和测试响应向量，得到准确的故障点，并且能将故障隔离到具体的引脚，并且得到故障类型，最后发送给上位机显示出故障位置和故障类型，打印测试报告。