[发明专利]一种双目成像式水下光谱反射率原位测量装置及测量方法在审

专利信息
申请号: 201811276541.1 申请日: 2018-10-30
公开(公告)号: CN109444056A 公开(公告)日: 2019-03-08
发明(设计)人: 宋宏;吴超鹏;申屠溢醇;王文鑫;万启新;杨萍;方美芬 申请(专利权)人: 浙江大学
主分类号: G01N21/27 分类号: G01N21/27;G01V8/10
代理公司: 杭州求是专利事务所有限公司 33200 代理人: 邱启旺
地址: 310058 浙江*** 国省代码: 浙江;33
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摘要: 发明公开了一种双目成像式水下光谱反射率原位测量装置及测量方法,包括双目光谱成像子系统、水下宽光谱LED光源、水体衰减系数测量仪、控制单元、接收端光端机、上位机、支架;其中,双目光谱成像子系统包括两台参数完全相同的第一水下光谱成像仪和第二水下光谱成像仪;第一水下光谱成像仪和第二水下光谱成像仪同步采集水下目标物光谱图像序列;水体衰减系数测量仪固定于支架上,用于测量水体光学衰减系数,第一水下光谱成像仪、第二水下光谱成像仪、水下宽光谱LED光源和水体衰减系数测量仪均与控制单元相连,控制单元与接收端光端机相连,接收端光端机与上位机相连。本发明能实现水下目标物表面光谱反射率的原位、定量、准确测量。
搜索关键词: 光谱成像仪 衰减系数 水体 测量仪 光端机 接收端 原位测量装置 光谱反射率 宽光谱LED 光谱成像 双目成像 水下目标 测量 上位机 支架 光源 双目 光学衰减系数 表面光谱 同步采集 图像序列 准确测量 反射率 物光谱
【主权项】:
1.一种双目成像式水下光谱反射率原位测量装置,其特征在于,包括双目光谱成像子系统、水下宽光谱LED光源(3)、水体衰减系数测量仪(4)、控制单元(5)、接收端光端机(6)、上位机(7)、支架(8)等;其中,所述双目光谱成像子系统包括两台参数完全相同的第一水下光谱成像仪(1)和第二水下光谱成像仪(2),两者平行安装在支架(8)的左右两侧且前端面位于同一平面上;所述第一水下光谱成像仪(1)和第二水下光谱成像仪(2)同步采集水下目标物光谱图像序列;所述水体衰减系数测量仪(4)固定于支架(8)上,用于测量水体光学衰减系数,所述第一水下光谱成像仪(1)、第二水下光谱成像仪(2)、水下宽光谱LED光源(3)和水体衰减系数测量仪(4)均与控制单元(5)相连,控制单元(5)与接收端光端机(6)相连,接收端光端机(6)与上位机(7)相连。
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