[发明专利]一种雷达天线阵面变形测量系统及方法在审
| 申请号： | 201811278134.4 | 申请日： | 2018-10-30 |
| 公开（公告）号： | CN109443224A | 公开（公告）日： | 2019-03-08 |
| 发明（设计）人： | 高会军;彭高亮;许世龙;刘世伟 | 申请（专利权）人： | 哈尔滨工业大学 |
| 主分类号： | G01B11/16 | 分类号： | G01B11/16 |
| 代理公司： | 北京君恒知识产权代理事务所(普通合伙) 11466 | 代理人： | 张强 |
| 地址： | 150001 黑龙*** | 国省代码： | 黑龙江;23 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明一种雷达天线阵面变形测量系统及方法，可以对雷达天线阵面的变形量进行实时、间接地测量。传感器阵列采集雷达天线阵面表面各点的应变信号，传感器阵列的输出端与数据处理模块的输入端相连，数据处理模块的输出端与上位机的输入端相连；数据处理模块对传感器阵列采集的应变信号进行解调、将模拟信号转换为数字信号并去噪声；上位机对数据处理模块处理后的应变信号进行雷达天线阵面变形量的计算。雷达天线阵面变形测量方法包括如下步骤：采集雷达天线阵面表面各点的表面应变，得到应变信号；将采集到的应变信号解调、转换为数字信号并去噪声；采用逆有限单元法求解出处理后的雷达天线阵面表面各点变形量。 | ||
| 搜索关键词： | 雷达天线阵面 应变信号 数据处理模块 传感器阵列 变形量 采集 变形测量系统 数字信号 去噪声 上位机 输出端 输入端 解调 模拟信号转换 变形测量 表面应变 雷达天线 单元法 求解 测量 转换 | ||
【主权项】：
1.一种雷达天线阵面变形测量系统，其特征在于：所述雷达天线阵面变形测量系统由分布在雷达天线阵面(11)表面的传感器阵列(12)、数据处理模块(13)和上位机(14)组成；所述传感器阵列(12)采集雷达天线阵面(11)表面各点的应变信号，所述传感器阵列(12)的输出端与所述数据处理模块(13)的输入端相连，所述数据处理模块(13)的输出端与所述上位机(14)的输入端相连；所述数据处理模块(13)对所述传感器阵列(12)采集的应变信号进行解调、将模拟信号转换为数字信号并去噪声；所述上位机(14)对所述数据处理模块(13)处理后的应变信号进行雷达天线阵面(11)变形量的计算。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于哈尔滨工业大学，未经哈尔滨工业大学许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201811278134.4/，转载请声明来源钻瓜专利网。
