[发明专利]光学模组安全监测装置在审
申请号: | 201811285585.0 | 申请日: | 2018-10-31 |
公开(公告)号: | CN109506894A | 公开(公告)日: | 2019-03-22 |
发明(设计)人: | 程亮;王兆民 | 申请(专利权)人: | 深圳奥比中光科技有限公司 |
主分类号: | G01M11/00 | 分类号: | G01M11/00 |
代理公司: | 深圳新创友知识产权代理有限公司 44223 | 代理人: | 程丹 |
地址: | 518000 广东省深圳市南*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本发明提供一种光学模组安全监测装置,包括:光学器件,设置在光学模组中;透明导电薄膜,附于所述光学器件表面;驱动芯片,与所述透明导电薄膜连接,用于监测所述透明导电薄膜的性能变化;控制器,与所述驱动芯片和所述光学模组连接,用于接收来自所述驱动芯片的监测信号,并根据所述监测信号控制所述光学模组。通过采用驱动芯片和控制器的双芯片方式来对光学模组中的光学器件进行监测,仅在出现异常时才访问CPU,避免了现有技术中仅利用CPU完成光学器件/光学模组的监控时所造成的CPU能耗损耗大、响应慢的缺陷。 | ||
搜索关键词: | 光学模组 驱动芯片 透明导电薄膜 光学器件 安全监测装置 监测信号 控制器 光学器件表面 性能变化 双芯片 监测 能耗 监控 响应 访问 | ||
【主权项】:
1.一种光学模组安全监测装置,其特征在于,包括:光学器件,设置在光学模组中;透明导电薄膜,附于所述光学器件表面;驱动芯片,与所述透明导电薄膜连接,用于监测所述透明导电薄膜的性能变化;控制器,与所述驱动芯片和所述光学模组连接,用于接收来自所述驱动芯片的监测信号,并根据所述监测信号控制所述光学模组。
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