[发明专利]一种基于相移差动的光学瞄准与定点装置及方法有效
| 申请号： | 201811285887.8 | 申请日： | 2018-10-31 |
| 公开（公告）号： | CN111121617B | 公开（公告）日： | 2022-03-22 |
| 发明（设计）人： | 艾华 | 申请（专利权）人： | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 |
| 主分类号： | G01B11/00 | 分类号： | G01B11/00 |
| 代理公司： | 深圳市科进知识产权代理事务所(普通合伙) 44316 | 代理人： | 吴乃壮 |
| 地址： | 130033 吉林省长春*** | 国省代码： | 吉林;22 |
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| 摘要： | 本发明提供的基于相移差动的光学瞄准与定点装置及方法，光线汇聚在待测物体上，当遇到特征点狭缝或是反光亮线时，该狭缝线长方向与待测物体运动方向垂直，在信号接收端，通过采用两个光电接收器进行相移差动位移检测，可以提高位置零点检测精度，相对于现有方案，检测精度提高数十倍至百倍；同时，采用本发明的装置也能避免光源强弱变化引起位置信息变宽或丢失的现象产生；另外，因为不需要采用双狭缝(光栅)的结构，可以避免距离近造成的划伤等问题。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 相移 差动 光学 瞄准 定点 装置 方法 | ||
【主权项】：
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