[发明专利]一种多功能矩形腔微扰法检测纳米薄膜复介质常数的方法有效
| 申请号： | 201811289933.1 | 申请日： | 2018-10-31 |
| 公开（公告）号： | CN109212322B | 公开（公告）日： | 2020-03-24 |
| 发明（设计）人： | 柳清伙;张奇英;肖芬;朱锦锋 | 申请（专利权）人： | 厦门大学 |
| 主分类号： | G01R27/26 | 分类号： | G01R27/26;G01R33/12 |
| 代理公司： | 厦门南强之路专利事务所(普通合伙) 35200 | 代理人： | 张素斌 |
| 地址： | 361005 *** | 国省代码： | 福建;35 |
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| 摘要： | 一种多功能矩形腔微扰法检测纳米薄膜复介质常数的方法，涉及检测材料性能参数的领域。所述纳米薄膜片式材料测量装置包含矩形腔传感器、微波矢量网络分析仪、输入同轴电缆、输出同轴电缆、GPIB数据采集卡和计算机。本发明可进行纯介电材料复介电常数(介电常数，介电损耗系数)、纯磁性材料复磁导率(磁导率，磁损耗系数)及混合介质材料复介质常数(介电常数，介电损耗系数，磁导率，磁损耗系数)的检测，具有多功能和多模式，检测方法精确度高、实验操作方便。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 多功能 矩形 腔微扰法 检测 纳米 薄膜 介质 常数 方法 | ||
【主权项】：
1.一种多功能矩形腔微扰法检测纳米薄膜复介质常数的装置，其特征在于：包括矩形腔传感器、微波矢量网络分析仪、输入同轴电缆、输出同轴电缆、GPIB数据采集卡和计算机；输入同轴电缆的一端连接微波矢量网络分析仪的微波信号输出端口，输入同轴电缆的另一端连接矩形腔传感器的输入端；输出同轴电缆的一端连接矩形腔传感器的输出端，输出同轴电缆的另一端连接微波矢量网络分析仪的微波信号输入端口；GPIB数据采集卡的输入端与微波矢量网络分析仪的数据输出端连接，GPIB数据采集卡的输出端与计算机相连接。
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