[发明专利]一种采用TSV和RDL的三维集成电路散热系统在审
申请号: | 201811290990.1 | 申请日: | 2018-10-31 |
公开(公告)号: | CN109545763A | 公开(公告)日: | 2019-03-29 |
发明(设计)人: | 王凤娟;李玥;余宁梅 | 申请(专利权)人: | 西安理工大学 |
主分类号: | H01L23/48 | 分类号: | H01L23/48;H01L23/485;H01L23/367 |
代理公司: | 西安弘理专利事务所 61214 | 代理人: | 常娥 |
地址: | 710048*** | 国省代码: | 陕西;61 |
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摘要: | 本发明公开一种采用TSV和RDL的三维集成电路散热系统,三维集成电路包括依次叠加设置的键合层、硅衬底和有源区,其特征在于,所述硅衬底表面沉积有介质层,介质层内沉积有用于吸收有源区热量的金属线,硅衬底和介质层内设置有与金属线连接的热传导硅通孔,热传导硅通孔竖直穿过介质层。本发明散热系统通过在三维集成电路中设置金属线与热传导硅通孔,使三维集成电路散热均匀,减小芯片内部温度梯度,提高了三维集成电路的性能稳定性。 | ||
搜索关键词: | 三维集成电路 介质层 散热系统 硅通孔 金属线 热传导 硅衬底 沉积 硅衬底表面 吸收有源区 性能稳定性 散热均匀 温度梯度 依次叠加 键合层 减小 竖直 源区 芯片 穿过 | ||
【主权项】:
1.一种采用TSV和RDL的三维集成电路散热系统,所述三维集成电路(1)包括依次叠加设置的键合层(11)、硅衬底(10)和有源区(8),其特征在于,所述硅衬底(10)表面沉积有介质层(9),介质层(9)内沉积有用于吸收有源区(8)热量的金属线(6),硅衬底(10)和介质层(9)内设置有与金属线(6)连接的热传导硅通孔(2),热传导硅通孔(2)竖直穿过介质层(9)。
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