[发明专利]一种采用TSV和RDL的三维集成电路散热系统在审

专利信息
申请号: 201811290990.1 申请日: 2018-10-31
公开(公告)号: CN109545763A 公开(公告)日: 2019-03-29
发明(设计)人: 王凤娟;李玥;余宁梅 申请(专利权)人: 西安理工大学
主分类号: H01L23/48 分类号: H01L23/48;H01L23/485;H01L23/367
代理公司: 西安弘理专利事务所 61214 代理人: 常娥
地址: 710048*** 国省代码: 陕西;61
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明公开一种采用TSV和RDL的三维集成电路散热系统,三维集成电路包括依次叠加设置的键合层、硅衬底和有源区,其特征在于,所述硅衬底表面沉积有介质层,介质层内沉积有用于吸收有源区热量的金属线,硅衬底和介质层内设置有与金属线连接的热传导硅通孔,热传导硅通孔竖直穿过介质层。本发明散热系统通过在三维集成电路中设置金属线与热传导硅通孔,使三维集成电路散热均匀,减小芯片内部温度梯度,提高了三维集成电路的性能稳定性。
搜索关键词: 三维集成电路 介质层 散热系统 硅通孔 金属线 热传导 硅衬底 沉积 硅衬底表面 吸收有源区 性能稳定性 散热均匀 温度梯度 依次叠加 键合层 减小 竖直 源区 芯片 穿过
【主权项】:
1.一种采用TSV和RDL的三维集成电路散热系统,所述三维集成电路(1)包括依次叠加设置的键合层(11)、硅衬底(10)和有源区(8),其特征在于,所述硅衬底(10)表面沉积有介质层(9),介质层(9)内沉积有用于吸收有源区(8)热量的金属线(6),硅衬底(10)和介质层(9)内设置有与金属线(6)连接的热传导硅通孔(2),热传导硅通孔(2)竖直穿过介质层(9)。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于西安理工大学,未经西安理工大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201811290990.1/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top