[发明专利]参考DAC的背景校准和ADC中的量化非线性有效

专利信息
申请号: 201811293276.8 申请日: 2018-11-01
公开(公告)号: CN109756226B 公开(公告)日: 2023-07-04
发明(设计)人: A·M·A·阿里;P·古拉蒂 申请(专利权)人: 美国亚德诺半导体公司
主分类号: H03M1/10 分类号: H03M1/10
代理公司: 中国贸促会专利商标事务所有限公司 11038 代理人: 张小稳
地址: 美国马*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 本公开涉及参考DAC的背景校准和ADC中的量化非线性。多步骤ADC通过为后续阶段产生数字化的残差来执行多步骤转换。为了产生残余,多步骤ADC中的级将使用前馈数模转换器(DAC)重建到级的输入信号。DAC中的非线性可直接影响多步骤ADC的整体性能。为了降低功耗和模拟电路设计的复杂性,实现了数字背景校准方案以解决非线性问题。校准方案所解决的非线性可包括参考,DAC和量化非线性。
搜索关键词: 参考 dac 背景 校准 adc 中的 量化 非线性
【主权项】:
1.一种用于多步骤模数转换器中的误差的背景校准的方法,该方法包括:注入抖动;从输入信号的样本到所述多步骤模数转换器中的级除去所述抖动的估计;确定一个或多个检查点;基于落入由所述一个或多个检查点设定的一个或多个间隔内的样本来确定误差;和基于所述误差来校正所述级。
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