[发明专利]一种增强静态双折射干涉光谱分辨率的方法及其装置有效
申请号: | 201811307503.8 | 申请日: | 2018-11-05 |
公开(公告)号: | CN109579995B | 公开(公告)日: | 2020-04-28 |
发明(设计)人: | 李杰;吴海英;齐春 | 申请(专利权)人: | 西安交通大学 |
主分类号: | G01J3/45 | 分类号: | G01J3/45;G01J3/14;G01J3/02 |
代理公司: | 西安通大专利代理有限责任公司 61200 | 代理人: | 杨博 |
地址: | 710049 陕*** | 国省代码: | 陕西;61 |
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摘要: | 本发明公开了一种增强静态双折射干涉光谱分辨率的方法及其装置,包括将待测光线分割为具有不同位相的子光束;将每个子光束分为两束具有角剪切量或横向剪切量、振动方向垂直的等幅线偏振光;线偏振光在焦平面发生干涉,产生若干子干涉条纹;将各个子干涉条纹进行配准,并且将配准后的子干涉条纹首尾相连组成干涉条纹,再通过傅里叶变换解调得到高分辨率光谱数据。采用阶梯形双折射位相延迟器阵列和双折射干涉结构,能够极大的扩展静态双折射干涉光程差,使探测器单次曝光便可在宽波段范围内获取高分辨率的光谱信息。 | ||
搜索关键词: | 一种 增强 静态 双折射 干涉 光谱 分辨率 方法 及其 装置 | ||
【主权项】:
1.一种增强静态双折射干涉光谱分辨率的方法,其特征在于,包括将待测光线分割为多束具有不同位相的子光束;将每个子光束分为两束具有角剪切量或横向剪切量、振动方向垂直的等幅线偏振光;线偏振光在焦平面发生干涉,产生若干子干涉条纹;将各个子干涉条纹进行配准,并且将配准后的子干涉条纹首尾相连组成干涉条纹,再通过傅里叶变换解调得到高分辨率光谱数据。
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