[发明专利]一种固态硬盘性能测试方法、系统、装置及可读存储介质有效

专利信息
申请号: 201811312830.2 申请日: 2018-11-06
公开(公告)号: CN109448778B 公开(公告)日: 2021-03-09
发明(设计)人: 王朋 申请(专利权)人: 苏州浪潮智能科技有限公司
主分类号: G11C29/56 分类号: G11C29/56
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人: 罗满
地址: 215100 江苏省苏州市吴*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 本申请公开了一种固态硬盘性能测试方法、系统、装置及计算机可读存储介质,对经过初始化操作,存储数据为空的待测固态硬盘首先重复进行间断式写入,按照预设的第一写入时间随机写入目标大小的测试数据,间隔预设的时间阈值后,再次写入,直至达到预设的第一迭代阈值,获取到间断式写入时的性能参数,再按照预设的第二写入时间随机写入目标大小的测试数据,获取持续写入时的性能参数,利用两种写入方式时的性能参数,生成与当前时间阈值对应的性能基线,再不断调整时间阈值,得到不同的性能基线,进而生成测试报告,利用测试报告可以验证固态硬盘空闲时间对性能的影响,可以根据测试报告选择最优的固态硬盘读写方式,提高固态硬盘的运行效率。
搜索关键词: 一种 固态 硬盘 性能 测试 方法 系统 装置 可读 存储 介质
【主权项】:
1.一种固态硬盘性能测试方法,其特征在于,包括:S11:按照预设的第一写入时间向待测固态硬盘随机写入预设的目标大小的测试数据;其中,所述待测固态硬盘为经过初始化操作,存储数据为空的硬盘;S12:间隔预设的时间阈值后,返回S11,直至达到预设的第一迭代阈值;S13:按照预设的第二写入时间向所述待测固态硬盘随机写入所述目标大小的测试数据;S14:记录所述待测固态硬盘执行S11和S13期间的性能参数,利用所述性能参数构建性能基线;S15:调整所述时间阈值,间隔预设的阶段时间阈值后,返回S11,直至满足第二迭代阈值,得到多个所述待测固态硬盘的性能基线;S16:利用多个性能基线,生成测试报告。
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