[发明专利]一种超宽带多波束系统测向精度的校正方法及装置有效
申请号: | 201811313397.4 | 申请日: | 2018-11-06 |
公开(公告)号: | CN109581279B | 公开(公告)日: | 2020-07-10 |
发明(设计)人: | 杨宇宸;向海生;夏润梁;卢晓鹏;张德智;刘浩;黄俊园 | 申请(专利权)人: | 中国电子科技集团公司第三十八研究所 |
主分类号: | G01S3/78 | 分类号: | G01S3/78 |
代理公司: | 合肥昊晟德专利代理事务所(普通合伙) 34153 | 代理人: | 王林 |
地址: | 230000 安徽省合*** | 国省代码: | 安徽;34 |
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摘要: | 本发明公开了一种超宽带多波束系统测向精度的校正方法及装置,使用微波暗室平面测试系统对系统中间波束进行测试,记录平面近场测试数据;根据获得的平面近场测试数据反演获得天线单元口径场的幅度相位分布信息;判断天线口径场的幅度相位分布信息与理论值的误差是否满足要求;使用微波暗室平面测试系统对系统所有波束、全频段进行测试;根据获得的平面近场数据反演系统的远场方向图,将测向表写入系统中;完成波束校正补偿后,输入计算的码值,获得每个通道的校正参数。本发明具有简单方便的工程实施性,提高系统测向精度,尤其是目标频率偏离中心频率且目标方位偏离中间波束的情况,有利于后续目标跟踪处理。 | ||
搜索关键词: | 一种 宽带 波束 系统 测向 精度 校正 方法 装置 | ||
【主权项】:
1.一种超宽带多波束系统测向精度的校正方法,其特征在于,包括以下步骤:(1)波束校正补偿具体过程如下:(11)使用微波暗室平面测试系统对系统中间波束进行测试,记录平面近场测试数据;(12)根据获得的平面近场测试数据反演获得天线单元口径场的幅度相位分布信息;(13)判断天线口径场的幅度相位分布信息与理论值的误差是否满足要求,如果不满足要求,进入下一步,反之,则完成波束校正补偿;(14)根据步骤(12)计算的幅度、相位值与理论值计算得到需要补偿的码值,在射频前端输入相应的码值补偿幅度、相位误差,然后进入步骤(11)测量校正后的结果;(2)测向误差预处理具体过程如下:(21)使用微波暗室平面测试系统对系统所有波束、全频段进行测试;(22)根据获得的平面近场数据反演系统的远场方向图,建立相邻波束幅度比与角度、工作频率对应的测向表;(23)将测向表写入系统中;(3)测向误差实时处理具体过程如下:(31)系统完成波束校正补偿后,输入计算的码值,获得每个通道的校正参数;(32)系统正常工作时,在开机自检、校正及周期自检、校正过程中执行系统内校正,获得通道的实时校正参数;(33)如果通道状态产生变化,可以根据实时校正参数和步骤(31)获取的校正参数计算新的码值,完成针对器件状态变化的实时校正。
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