[发明专利]基于渐进取样的结构面三维粗糙度系数确定方法在审

专利信息
申请号: 201811316501.5 申请日: 2018-11-07
公开(公告)号: CN109443256A 公开(公告)日: 2019-03-08
发明(设计)人: 马成荣;黄曼;罗战友;徐常森;张贺;杜时贵 申请(专利权)人: 绍兴文理学院
主分类号: G01B11/30 分类号: G01B11/30;G01B11/24;G06T17/30;G06T17/05
代理公司: 杭州斯可睿专利事务所有限公司 33241 代理人: 王利强
地址: 312000 浙江*** 国省代码: 浙江;33
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摘要: 一种基于渐进取样的结构面三维粗糙度系数确定方法,包括以下步骤:1)利用三维激光扫描仪扫描工程岩体结构面,获得结构面表面起伏形态的三维点云数据,将三维激光扫描图摆正,建立三维坐标系;2)对结构面进行采样;3)得到结构面上N1条垂直于X轴的轮廓曲线的粗糙信息,N2条垂直于Y轴的轮廓曲线的粗糙信息;4)对轮廓线进行渐进取样;5)得到轮廓线的二维粗糙度系数值;6)依次处理5)中获取的所有轮廓线,得到N=Nx+Ny值,并求取其平均值即是该结构面的三维粗糙度系数值。本发明即保证了样本的高代表性,又保证了在计算结构面轮廓线JRC2d值时的合理性。
搜索关键词: 结构面 轮廓线 渐进 取样 三维 粗糙度系数 粗糙信息 轮廓曲线 粗糙度 垂直 三维激光扫描仪 三维点云数据 三维激光扫描 结构面表面 三维坐标系 岩体结构面 计算结构 扫描工程 依次处理 面轮廓 采样 二维 合理性 样本 保证
【主权项】:
1.一种基于渐进取样的结构面三维粗糙度系数确定方法,其特征在于,所述方法包括以下步骤:1)利用三维激光扫描仪扫描工程岩体结构面,大小为Dcm*Dcm,获得结构面表面起伏形态的三维点云数据,将三维激光扫描图摆正,令其在X‑Y的投影图像的左下角点为原点,相邻两边为X、Y轴,朝向结构面扫描图的方向为Z轴方向建立三维坐标系;2)对结构面进行采样:在对结构面样品进行取样时,以长度为Dcm,垂直于X轴,两端点的坐标分别为(xi,0)、(xi,D),其中,(xi=n*Δd、n为整数,ΔD为单次推进长度,ΔD<<D)的线段L1为取样单元,记录结构面上在X‑Y平面上的投影落在L1上的所有像素点的坐标,利用坐标集表示轮廓线粗糙信息,并做记录;以长度为Dcm,垂直于Y轴,两端点的坐标分别为(0,yj)、(D,yj),其中(yj=m*Δd、m为整数,ΔD为单次推进长度,ΔD<<D)的线段L2为取样单元,记录结构面上在X‑Y平面上的投影落在L2上的所有像素点的坐标,利用坐标集表示轮廓线粗糙信息,并做记录;3)n依次取值为可得到组点坐标集合,即是结构面上N1条垂直于X轴的轮廓曲线的粗糙信息;m依次取值为可得到组点坐标集合,即是结构面上N2条垂直于Y轴的轮廓曲线的粗糙信息;4)针对单条样品轮廓曲线,对轮廓线进行渐进取样,取样方法是:以长度为dcm,两端点坐标为(xi,0)、(xi+d,0)、其中xi=Δd*k,(k为整数,Δd为每次推进长度)的线段为取样单元,其中Δd<d<D,记录该轮廓线上在X轴的投影落在该线段上的像素点的坐标,并存为一个坐标集合;令k依次取值为得到个点坐标集,即是轮廓线上个直线长度为dcm的样本轮廓线的粗糙信息;5)利用MATLAB对每条样本轮廓线粗糙信息进行处理,用每个点的X轴的坐标表示该点在轮廓线上的位置,Y轴的坐标表示该点的相对起伏高度,利用公式求出每个取样单元的Z2值;并利用R.TSE提出的公式JRC=32.2+32.47logZ2,求出每个取样单元的值,共个,并求出该出的平均值即为该轮廓线的二维粗糙度系数值,即:6)同理,依次处理(5)(6)中获取的所有轮廓线,得到N=Nx+Ny值,并求取其平均值即是该结构面的三维粗糙度系数值JRC3d,即:
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