[发明专利]存储器件及其测试方法有效
| 申请号： | 201811317101.6 | 申请日： | 2018-11-07 |
| 公开（公告）号： | CN109979522B | 公开（公告）日： | 2023-01-20 |
| 发明（设计）人： | 玄相娥 | 申请（专利权）人： | 爱思开海力士有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/56 | 分类号： | G11C29/56 |
| 代理公司： | 北京弘权知识产权代理有限公司 11363 | 代理人： | 许伟群;郭放 |
| 地址： | 韩国*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本申请公开了一种存储器件及其测试方法。一种半导体系统包括：第一半导体器件，其适用于：输出命令；以及第二半导体器件，其适用于：基于所述命令来激活测试使能信号，产生计数信号，该计数信号表示在所述测试使能信号的激活时段内行激活信号的触发次数，当所述计数信号达到目标激活次数时增大并输出地址，以及当所述计数信号达到所述目标激活次数并且所述地址具有最大值时去激活所述测试使能信号。 | ||
| 搜索关键词： | 存储 器件 及其 测试 方法 | ||
【主权项】：
1.一种半导体系统，包括：第一半导体器件，其适用于：输出命令；以及第二半导体器件，其适用于：基于所述命令来激活测试使能信号，产生计数信号，所述计数信号表示在所述测试使能信号的激活时段内行激活信号的触发次数，当所述计数信号达到目标激活次数时，增大并输出地址；以及当所述计数信号达到所述目标激活次数并且所述地址具有最大值时，去激活所述测试使能信号。
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