[发明专利]基于反射窗口提高太赫兹波成像信噪比的装置及方法在审

专利信息
申请号: 201811321279.8 申请日: 2018-11-07
公开(公告)号: CN109459416A 公开(公告)日: 2019-03-12
发明(设计)人: 徐德刚;武丽敏;王与烨;姚建铨 申请(专利权)人: 天津大学
主分类号: G01N21/55 分类号: G01N21/55
代理公司: 天津市北洋有限责任专利代理事务所 12201 代理人: 李林娟
地址: 300072*** 国省代码: 天津;12
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摘要: 发明公开了一种基于反射窗口提高太赫兹波成像信噪比的装置及方法,本发明仅采用用于减少菲涅尔反射、物体不均匀漫散射等缺点的反射窗口,实现在采样阶段最大程度的增大信号振幅,提高成像信噪比。本发明将干涉理论应用到反射式成像中,通过理论计算选择合适的反射窗口厚度,实现成像信号强度的提升,提高成像信噪比,简易方便且成像质量好。
搜索关键词: 反射 信噪比 成像 太赫兹波成像 反射式成像 采样阶段 成像信号 理论计算 理论应用 信号振幅 不均匀 菲涅尔 漫散射 简易 干涉
【主权项】:
1.基于反射窗口提高太赫兹波成像信噪比的装置,其特征在于,所述装置包括:太赫兹波平面反射镜、第一太赫兹波离轴抛物面镜、第二太赫兹波离轴抛物面镜、第三太赫兹波离轴抛物面镜依次设置在太赫兹波的出射光路上;第一太赫兹波离轴抛物面镜用于将输出的太赫兹波聚焦入射到反射窗口上;第二太赫兹波离轴抛物面镜设置在放样品装置的信号光出射光路上,用于接收信号光太赫兹波;第三太赫兹波离轴抛物面镜设置在太赫兹波探测前,用于接收并聚焦信号光太赫兹波进入探测器;探测器设置在第三太赫兹波离轴抛物面镜的信号光出射光路上,收集第三太赫兹波离轴抛物面镜的反射光;反射窗口为对太赫兹波高透的材料,其固定于二维扫描平台上,用于放置待测成像样品。
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