[发明专利]腔室用清洗装置及清洗方法、半导体处理设备有效

专利信息
申请号: 201811325141.5 申请日: 2018-11-08
公开(公告)号: CN111155072B 公开(公告)日: 2022-12-09
发明(设计)人: 丁安邦;史小平;陈鹏;兰云峰 申请(专利权)人: 北京北方华创微电子装备有限公司
主分类号: C23C16/44 分类号: C23C16/44;C23C16/455;C23C16/513
代理公司: 北京天昊联合知识产权代理有限公司 11112 代理人: 彭瑞欣;张天舒
地址: 100176 北京*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开了一种腔室用清洗装置、清洗方法及半导体处理设备。包括清洗等离子体源以及与清洗等离子体源连接的匀流件,匀流件上设置有加热带;加热带在匀流件的表面排列成若干个同心环状结构,并且,各同心环状结构的加热功率可调,以选择性地使得匀流件具有若干个不同的温度区。可以确保在执行完清洗工艺时,匀流件各处的温度可以快速恢复到设定的温度,温度均匀性也可以快速达到要求,进而可以缩减执行完清洗工艺的冷却时间,提高后续沉积工艺时的沉积速率和薄膜均匀性。
搜索关键词: 腔室用 清洗 装置 方法 半导体 处理 设备
【主权项】:
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