[发明专利]确定电子系统的电线中的缺陷的位置的方法及装置有效
| 申请号： | 201811326606.9 | 申请日： | 2018-11-08 |
| 公开（公告）号： | CN109946583B | 公开（公告）日： | 2021-05-11 |
| 发明（设计）人： | 亨利阿诺德帕克;塔梅尔穆罕默德阿里;黄世豪;吴建桦 | 申请（专利权）人： | 联发科技(新加坡)私人有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 深圳市威世博知识产权代理事务所(普通合伙) 44280 | 代理人： | 李庆波 |
| 地址： | 新加坡138628*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明实施例公开了用于确定电子系统的电线中的缺陷的位置的方法及装置，其中所述方法之一包括：利用控制电路，将第一信号转变输出到所述电线上；利用所述控制电路，接收根据所述缺陷对所述第一信号转变的反射而产生的第二信号转变；根据所述第一信号转变跨过第一阈值而确定第一事件的发生；根据所述第二信号转变跨过第二阈值而确定第二事件的发生；和根据所述第一事件的发生时间和所述第二事件的发生时间来确定所述缺陷的位置。实施本发明实施例可显著减少确定缺陷位置所需的时间。 | ||
| 搜索关键词： | 确定 电子 系统 电线 中的 缺陷 位置 方法 装置 | ||
【主权项】：
1.一种用于确定电子系统的电线中的缺陷的位置的方法，其特征在于，包括：利用控制电路，将第一信号转变输出到所述电线上；利用所述控制电路，接收根据所述缺陷对所述第一信号转变的反射而产生的第二信号转变；根据所述第一信号转变跨过第一阈值而确定第一事件的发生；根据所述第二信号转变跨过第二阈值而确定第二事件的发生；和根据所述第一事件的发生时间和所述第二事件的发生时间来确定所述缺陷的位置。
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